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講演抄録/キーワード
講演名 2008-04-23 11:30
FPGAを用いた耐故障システムの信頼性と性能に関する考察
野地亮志藤恵里司吉川祐樹市原英行井上智生広島市大CPSY2008-4 DC2008-4
抄録 (和) FPGA(Field Programmable Gate Array)は今日広く利用されているVLSIであり,
回路構成情報であるコンテキストを変更することで,任意の論理回路を再構成することが可能である.
FPGAを複数の構成ブロック(誤り検出の単位)に分割し,
故障が発生したブロックを分離して再構成することによってシステムを復旧する耐故障システムがこれまでにいくつか提案されている.
このようなFPGAを用いた耐故障システムは,漸次縮退システムと待機冗長システムの2つに大きく分けられ,
これらのシステムは,FPGAの分割数や再構成の可能な回数によってシステムの信頼性や性能が変化することが考えられる.

そこで本論文では,漸次縮退システムと待機冗長システムを評価,比較するために,
2つのシステムの信頼性および性能を評価可能なモデルを提案し,それらの関係について考察する.
また,2つのシステムを比較し,それぞれの耐故障システムの適したケースを考える. 
(英) FPGAs (Field-Programmable Gate Arrays), which can implement arbitrary logic circuits
any number of times by loading context data, are also applicable to implementation of
fault tolerant (FT) systems due to their reconfigurability.
Several previous works have discussed FPGA based FT systems
such that a system is implemented with multiple blocks on an FPGA, and when detecting
an error, the FPGA isolates the faulty block and reconfigures the system with the same function
on the remaining fault-free blocks.
Such FT systems can be classified according to recovering methods:
fail-soft and stand-by-redundant systems.
In this paper, focusing on these two types of systems, we propose a probabilistic model for evaluating
both fail-soft systems and stand-by-redundant systems, and analyze their reliability and performance.
The analytical results show that we can choose an appropriate system from these two types
of FT systems according to required application.
キーワード (和) 耐故障 / FPGA / 漸次縮退 / 待機冗長 / 信頼性 / 性能 / /  
(英) Fault-tolerance / FPGAs / fail-soft / stand-by-redundancy / reliability / performance / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 15, DC2008-4, pp. 19-24, 2008年4月.
資料番号 DC2008-4 
発行日 2008-04-16 (CPSY, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPSY2008-4 DC2008-4

研究会情報
研究会 DC CPSY  
開催期間 2008-04-23 - 2008-04-23 
開催地(和) 東大・武田ホール 
開催地(英) Tokyo Univ. 
テーマ(和) ディペンダブルコンピューティングシステムおよび一般 (共催: JST CREST 「アーキテクチャと形式的検証の協調による超ディペンダブルVLSI」) 
テーマ(英) Dependable Computing Systems, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2008-04-DC-CPSY 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) FPGAを用いた耐故障システムの信頼性と性能に関する考察 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Study on Reliability and Performance of FPGA-Based Fault Tolerant Systems 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 耐故障 / Fault-tolerance  
キーワード(2)(和/英) FPGA / FPGAs  
キーワード(3)(和/英) 漸次縮退 / fail-soft  
キーワード(4)(和/英) 待機冗長 / stand-by-redundancy  
キーワード(5)(和/英) 信頼性 / reliability  
キーワード(6)(和/英) 性能 / performance  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 野地 亮志 / Ryoji Noji / ノジ リョウジ
第1著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤恵 里司 / Satoshi Fujie / フジエ サトシ
第2著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉川 祐樹 / Yuki Yoshikawa / ヨシカワ ユウキ
第3著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ
第4著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ
第5著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2008-04-23 11:30:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 DC 
資料番号 CPSY2008-4, DC2008-4 
巻番号(vol) vol.108 
号番号(no) no.14(CPSY), no.15(DC) 
ページ範囲 pp.19-24 
ページ数
発行日 2008-04-16 (CPSY, DC) 


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