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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-04-23 11:30 FPGAを用いた耐故障システムの信頼性と性能に関する考察 ○野地亮志・藤恵里司・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大）  CPSY2008-4 DC2008-4 |
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| 抄録 | （和） | FPGA（Field Programmable Gate Array）は今日広く利用されているVLSIであり， 回路構成情報であるコンテキストを変更することで，任意の論理回路を再構成することが可能である． FPGAを複数の構成ブロック（誤り検出の単位）に分割し， 故障が発生したブロックを分離して再構成することによってシステムを復旧する耐故障システムがこれまでにいくつか提案されている． このようなFPGAを用いた耐故障システムは，漸次縮退システムと待機冗長システムの２つに大きく分けられ， これらのシステムは，FPGAの分割数や再構成の可能な回数によってシステムの信頼性や性能が変化することが考えられる． そこで本論文では，漸次縮退システムと待機冗長システムを評価，比較するために， ２つのシステムの信頼性および性能を評価可能なモデルを提案し，それらの関係について考察する． また，２つのシステムを比較し，それぞれの耐故障システムの適したケースを考える． |
| （英） | FPGAs (Field-Programmable Gate Arrays), which can implement arbitrary logic circuits any number of times by loading context data, are also applicable to implementation of fault tolerant (FT) systems due to their reconfigurability. Several previous works have discussed FPGA based FT systems such that a system is implemented with multiple blocks on an FPGA, and when detecting an error, the FPGA isolates the faulty block and reconfigures the system with the same function on the remaining fault-free blocks. Such FT systems can be classified according to recovering methods: fail-soft and stand-by-redundant systems. In this paper, focusing on these two types of systems, we propose a probabilistic model for evaluating both fail-soft systems and stand-by-redundant systems, and analyze their reliability and performance. The analytical results show that we can choose an appropriate system from these two types of FT systems according to required application. |
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| キーワード | （和） | 耐故障 / FPGA / 漸次縮退 / 待機冗長 / 信頼性 / 性能 / / |
| （英） | Fault-tolerance / FPGAs / fail-soft / stand-by-redundancy / reliability / performance / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 15, DC2008-4, pp. 19-24, 2008年4月. | |
| 資料番号 | DC2008-4 | |
| 発行日 | 2008-04-16 (CPSY, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2008-4 DC2008-4 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC CPSY |
| 開催期間 | 2008-04-23 - 2008-04-23 |
| 開催地（和） | 東大・武田ホール |
| 開催地（英） | Tokyo Univ. |
| テーマ（和） | ディペンダブルコンピューティングシステムおよび一般 （共催： JST CREST 「アーキテクチャと形式的検証の協調による超ディペンダブルVLSI」） |
| テーマ（英） | Dependable Computing Systems, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2008-04-DC-CPSY |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | FPGAを用いた耐故障システムの信頼性と性能に関する考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Study on Reliability and Performance of FPGA-Based Fault Tolerant Systems |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 耐故障 / Fault-tolerance |
| キーワード(2)（和/英） | FPGA / FPGAs |
| キーワード(3)（和/英） | 漸次縮退 / fail-soft |
| キーワード(4)（和/英） | 待機冗長 / stand-by-redundancy |
| キーワード(5)（和/英） | 信頼性 / reliability |
| キーワード(6)（和/英） | 性能 / performance |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 野地 亮志 / Ryoji Noji / ノジ リョウジ |
| 第1著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤恵 里司 / Satoshi Fujie / フジエ サトシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉川 祐樹 / Yuki Yoshikawa / ヨシカワ ユウキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ |
| 第5著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-04-23 11:30:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | CPSY2008-4, DC2008-4 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.14(CPSY), no.15(DC) |
| ページ範囲 | pp.19-24 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-04-16 (CPSY, DC) |
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