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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-04-23 15:00 電子システムの環境中性子線起因のエラーの現状と対策 ○伊部英史（日立）  CPSY2008-7 DC2008-7 |
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| 抄録 | （和） | 地上における民生用半導体デバイスのソフトエラーの主因として環境中性子線の影響が２０００年前後から顕在 化しはじめ、各種の問題が指摘されはじめている。 問題の定量化のためには標準的な試験手法が必要でその国際標準化も一昨 年中にほぼ収束した。 本稿では環境中性子による各種のエラーモードの状況,と試験・シミュレーション方法、および対策に ついて概括する。 |
| （英） | Environmental neutrons is being widely recognized as the most significant source of a variety of error modes in semiconductor devices from late 90s. International defacto- or dejule standards are being established to fix standard test methods to quantify the vulnerability of the semiconductor devices to such radiation sources. The present paper summarizes the current status of the error modes, experimental and simulation/analysis methods, and possible/existing countermeasures. |
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| キーワード | （和） | 中性子 / ソフトエラー / SEFI / MCU / MCBI / マルチノードアップセット / / |
| （英） | ｎｅｕｔｒｏｎ / soft-error / SEFI / MCU / MCBI / multi-node upset / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 15, DC2008-7, pp. 37-42, 2008年4月. | |
| 資料番号 | DC2008-7 | |
| 発行日 | 2008-04-16 (CPSY, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2008-7 DC2008-7 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC CPSY |
| 開催期間 | 2008-04-23 - 2008-04-23 |
| 開催地（和） | 東大・武田ホール |
| 開催地（英） | Tokyo Univ. |
| テーマ（和） | ディペンダブルコンピューティングシステムおよび一般 （共催： JST CREST 「アーキテクチャと形式的検証の協調による超ディペンダブルVLSI」） |
| テーマ（英） | Dependable Computing Systems, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2008-04-DC-CPSY |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 電子システムの環境中性子線起因のエラーの現状と対策 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Current Status of Impacts and Countermeasures in Environmental Neutron Induced Failures in Electric Systems |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 中性子 / ｎｅｕｔｒｏｎ |
| キーワード(2)（和/英） | ソフトエラー / soft-error |
| キーワード(3)（和/英） | SEFI / SEFI |
| キーワード(4)（和/英） | MCU / MCU |
| キーワード(5)（和/英） | MCBI / MCBI |
| キーワード(6)（和/英） | マルチノードアップセット / multi-node upset |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊部 英史 / Eishi Ibe / イベ エイシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日立製作所生産技術研究所 (略称： 日立) Production Engineering Research Laboratory, Hitachi, Ltd.. (略称： PERL) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-04-23 15:00:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | CPSY2008-7, DC2008-7 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.14(CPSY), no.15(DC) |
| ページ範囲 | pp.37-42 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-04-16 (CPSY, DC) |
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