| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2008-05-09 14:35
高信頼性モードと高速アクセスモードを有するディペンダブルSRAM ○奥村俊介・藤原英弘・井口友輔・野口紘希・森田泰弘・川口 博・吉本雅彦(神戸大) |
| 抄録 |
(和) |
信頼性を動的に変化させることが可能なディペンダブルSRAMを提案する.提案するSRAMは7トランジスタ(7T)構成であり,2つの従来6Tメモリセルを1組として,双方の内部ノードを追加トランジスタで接続する.提案SRAMは通常モード,高速アクセスモード,そして高信頼性モードの3種類のモードを有する.提案SRAMの高速アクセスモードでは,従来の6T SRAMと比較して読出しセル電流が142%増加し,その結果読出し時のビット線放電時間は66.3%短縮される.また,高信頼性モードにおいては,Bit error rate (BER)が2.510-2改善された.面積オーバーヘッドは追加トランジスタにPMOSを用いた場合は12%である. |
| (英) |
We propose a novel dependable SRAM with 7T memory cell pair, and introduce a new concept, “quality of a bit (QoB)” for it. The proposed SRAM has three modes: a typical mode, high-speed mode, and dependable mode, in which the QoB is scalable. That is, the area, speed, reliability, and/or power of one-bit information can be controlled. In the typical mode, assignment of information is as usual as one memory cell has one bit. On the other hand, in the high-speed or dependable mode, one-bit information is stored in two memory cells, which boosts the speed or increases the reliability. In the high speed mode, the cell current is increased by 142%, and bitline discharge time is reduced by 66.3%. Furthermore, in dependable mode, Bit error rate (BER) in proposed SRAM is improved by 2.510-2. Compared with the conventional 6T memory cell, the respective area overheads are 30% and 12%, in the nMOS and pMOS additional cases. |
| キーワード |
(和) |
SRAM / ディペンダブル LSI / Quality of a bit / / / / / |
| (英) |
SRAM / Dependable LSI / Quality of a bit / / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 108, pp. 31-36, 2008年5月. |
| 資料番号 |
|
| 発行日 |
2008-05-02 (VLD) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
VLD IPSJ-SLDM |
| 開催期間 |
2008-05-08 - 2008-05-09 |
| 開催地(和) |
神戸大学 |
| 開催地(英) |
Kobe Univ. |
| テーマ(和) |
システム設計および一般 |
| テーマ(英) |
System Design, etc. |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
IPSJ-SLDM |
| 会議コード |
2008-05-VLD-SLDM |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
高信頼性モードと高速アクセスモードを有するディペンダブルSRAM |
| サブタイトル(和) |
|
| タイトル(英) |
A Dependable SRAM with high-reliability mode and high-speed mode. |
| サブタイトル(英) |
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| キーワード(1)(和/英) |
SRAM / SRAM |
| キーワード(2)(和/英) |
ディペンダブル LSI / Dependable LSI |
| キーワード(3)(和/英) |
Quality of a bit / Quality of a bit |
| キーワード(4)(和/英) |
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| キーワード(5)(和/英) |
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| キーワード(6)(和/英) |
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| キーワード(7)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
奥村 俊介 / Shunsuke Okumura / オクムラ シュンスケ |
| 第1著者 所属(和/英) |
神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
藤原 英弘 / Hidehiro Fujiwara / フジワラ ヒデヒロ |
| 第2著者 所属(和/英) |
神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
井口 友輔 / Yusuke Iguchi / イグチ ユウスケ |
| 第3著者 所属(和/英) |
神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.) |
| 第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
野口 紘希 / Hiroki Noguchi / ノグチ ヒロキ |
| 第4著者 所属(和/英) |
神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.) |
| 第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
森田 泰弘 / Yasuhiro Morita / モリタ ヤスヒロ |
| 第5著者 所属(和/英) |
神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.) |
| 第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
川口 博 / Hiroshi Kawaguchi / カワグチ ヒロシ |
| 第6著者 所属(和/英) |
神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.) |
| 第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
吉本 雅彦 / Masahiko Yoshimoto / ヨシモト マサヒコ |
| 第7著者 所属(和/英) |
神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.) |
| 第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2008-05-09 14:35:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
IPSJ-SLDM |
| 資料番号 |
VLD2008-12 |
| 巻番号(vol) |
vol.108 |
| 号番号(no) |
no.23 |
| ページ範囲 |
pp.31-36 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2008-05-02 (VLD) |
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