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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-06-20 14:50 ［招待講演］テスト設計における最近の課題と展望 ○佐藤康夫（日立）  DC2008-15 |
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| 抄録 | （和） | LSI回路の微細化・高速化に伴いLSIテストも質的および量的な変化が求められている．質的変化については，テスト品質向上のため，従来の縮退故障テストに代表される決定的に0/1判定を行うテストだけでなく，LSIのパラメトリックな特性に着目したテストが必要となっている．これらのテストでは合否判定基準を統計的なデータに基づいて決定する必要があり，従来テストとは本質的に異なると言える．量的変換については，質的変化によるテスト数やテストデータ量の増大を抑止し，テストコストを低減することが大きな課題になっている．本報告では，最近の研究動向やITRS（International Technology Roadmap for Semiconductors）の報告を中心に，上記の動向を概観し，テスト設計の課題と展望を示す． |
| （英） | As the manufacturing process evolves with shrinking geometry and the speed of an LSI circuit increases, LSI testing technologies are required various changes qualitatively and quantitatively. The conventional tests, such as the stuck-at fault test, which finds LSI’s pass/fail deterministically, are no more major solutions, and the various parametric tests, which find LSI’s pass/fail statistically, became crucial. These statistical approaches are essentially different from the conventional ones. It also became crucial how to reduce test cost as long as suppressing the increase of the number of test patterns or the amount of test data. In this paper, we show the state of the art and future trends of DFT design based on the latest researches and ITRS (International Technology Roadmap for Semiconductors). | |
| キーワード | （和） | テスト数 / テストデータ量 / パラメトリックテスト / テストコスト / / / / |
| （英） | test pattern count / test data amount / parametric test / test cost / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 99, DC2008-15, pp. 23-28, 2008年6月. | |
| 資料番号 | DC2008-15 | |
| 発行日 | 2008-06-13 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2008-15 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2008-06-20 - 2008-06-20 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2008-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | テスト設計における最近の課題と展望 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | The State of the Art and Future Trends of Test Design |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | テスト数 / test pattern count |
| キーワード(2)（和/英） | テストデータ量 / test data amount |
| キーワード(3)（和/英） | パラメトリックテスト / parametric test |
| キーワード(4)（和/英） | テストコスト / test cost |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社 日立製作所 (略称： 日立) Hitachi Ltd. (略称： Hitachi) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-06-20 14:50:00 |
| 発表時間 | 50分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2008-15 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.99 |
| ページ範囲 | pp.23-28 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-06-13 (DC) |
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