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講演抄録/キーワード
講演名 2008-07-17 10:55
高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術
野口宏一朗野瀬浩一NEC)・尾野年信NECエレクトロニクス)・水野正之NECSDM2008-132 ICD2008-42 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2008-132 ICD2008-42
抄録 (和) プロセスの微細化によるチップの高集積化に伴い、微小遅延故障がチップの信頼性を下げる大きな要因の一つになっている。我々はLSIのスクリーニング技術として、これらの微小遅延故障を検出する技術を開発した。開発した検出技術は従来手法よりも短い時間テスト時間で、遅延統計において分布はずれとして現れる微小遅延故障の検出を実現する。90nmCMOSテストチップ用い評価を行った結果、100MHz設計の回路において、微小遅延故障によって引き起こされた約1nsの遅延変化の検出を実現した。このとき、テスト時間を従来手法の1/25まで削減した。 
(英) As continuous process scaling produces large-scale chips, small-delay defects become one of the major chip-reliability limiters. Small-delay defect detection techniques for LSI screening have been developed, which can successfully detect outlier chips among normally-distributed chips in a short testing time. In our experiments with 90nm CMOS 100MHz test chips, we have successfully detected around 1-ns path-delay shift caused by small-delay defects in only 1/25 of testing time.
キーワード (和) 遅延テスト / スクリーニング / テスト / スキャンFF / / / /  
(英) Delay defect / Screening / Test / Scan-FF / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 140, ICD2008-42, pp. 23-28, 2008年7月.
資料番号 ICD2008-42 
発行日 2008-07-10 (SDM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SDM2008-132 ICD2008-42 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2008-132 ICD2008-42

研究会情報
研究会 ICD SDM  
開催期間 2008-07-17 - 2008-07-18 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2008-07-ICD-SDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A small-delay defect detection technique for dependable LSIs 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 遅延テスト / Delay defect  
キーワード(2)(和/英) スクリーニング / Screening  
キーワード(3)(和/英) テスト / Test  
キーワード(4)(和/英) スキャンFF / Scan-FF  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 野口 宏一朗 / Koichiro Noguchi / ノグチ コウイチロウ
第1著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 野瀬 浩一 / Koichi Nose / ノセ コウイチ
第2著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 尾野 年信 / Toshinobu Ono / オノ トシノブ
第3著者 所属(和/英) NECエレクトロニクス (略称: NECエレクトロニクス)
NEC Electronics (略称: NECEL)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 水野 正之 / Masayuki Mizuno / ミズノ マサユキ
第4著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
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講演者 第1著者 
発表日時 2008-07-17 10:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 SDM2008-132, ICD2008-42 
巻番号(vol) vol.108 
号番号(no) no.139(SDM), no.140(ICD) 
ページ範囲 pp.23-28 
ページ数
発行日 2008-07-10 (SDM, ICD) 


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