| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2008-07-18 16:05
接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) ~ 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係 ~ ○宮永和明・萓野良樹(秋田大)・高木 相(東北大名誉教授)・井上 浩(秋田大) EMCJ2008-48 EMD2008-30 |
| 抄録 |
(和) |
電気接点の開離初期現象と物性値の関係は未だ不明な部分が多い.そこで,本報告では接触電圧の時間変化を知るために銀パラジウム電極を低速で接触させ,定常接触電圧とそれに到達するまでの時間を測定し,Pd含有率とどのような関係にあるのかを調べた.その結果,定常接触電圧とそれに達するまでの時間は正の相関が見いだされた.また定常接触電圧に達するまでの時間が熱伝導率の逆数と相関があり,電気抵抗率が小さい材料は,接触抵抗が低くなるだけではなく抵抗値が一定となる定常接触までの時間も短いことが明らかとなった. |
| (英) |
The relationship between initial phenomenon of the opening electrical contacts and the physical properties is not clear yet. In this paper, to clarify the contact voltage of the electrical contact, the steady contact voltage and the arrival time were measured at the slowly making silver palladium alloy contacts. And the relationship between AgPd content rate and the arrival time of the steady contact voltage was examined. In the results, the steady contact voltage correlated with the arrival time of the steady contact voltage, and the arrival time of the steady contact voltage correlated with the inverse of heat conductivity. It was demonstrated that the low resistivity materials have not only the low contact resistance but also the short arrival time of the steady contact resistance. |
| キーワード |
(和) |
電気接点 / 低速度閉成接点 / 熱伝導 / 銀パラジウム合金 / 接触電圧 / / / |
| (英) |
electrical contacts / slowly making contacts / heat conduction / silver palladium alloy / contact voltage / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 108, no. 145, EMD2008-30, pp. 43-48, 2008年7月. |
| 資料番号 |
EMD2008-30 |
| 発行日 |
2008-07-11 (EMCJ, EMD) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
EMCJ2008-48 EMD2008-30 |
| 研究会情報 |
| 研究会 |
EMCJ EMD |
| 開催期間 |
2008-07-18 - 2008-07-18 |
| 開催地(和) |
機械振興会館 |
| 開催地(英) |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ(和) |
放電・回路/一般 |
| テーマ(英) |
|
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
EMD |
| 会議コード |
2008-07-EMCJ-EMD |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) |
| サブタイトル(和) |
銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係 |
| タイトル(英) |
A measurement of the arrival time of the steady contact voltage at the slowly making contacts (Part 2) |
| サブタイトル(英) |
The relationship between AgPd content rate and the arrival time of the steady contact voltage |
| キーワード(1)(和/英) |
電気接点 / electrical contacts |
| キーワード(2)(和/英) |
低速度閉成接点 / slowly making contacts |
| キーワード(3)(和/英) |
熱伝導 / heat conduction |
| キーワード(4)(和/英) |
銀パラジウム合金 / silver palladium alloy |
| キーワード(5)(和/英) |
接触電圧 / contact voltage |
| キーワード(6)(和/英) |
/ |
| キーワード(7)(和/英) |
/ |
| キーワード(8)(和/英) |
/ |
| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
宮永 和明 / Kazuaki Miyanaga / ミヤナガ カズアキ |
| 第1著者 所属(和/英) |
秋田大学 (略称: 秋田大)
Akita University (略称: Akita Univ.) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
萓野 良樹 / Yoshiki Kayano / カヤノ ヨシキ |
| 第2著者 所属(和/英) |
秋田大学 (略称: 秋田大)
Akita University (略称: Akita Univ.) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
高木 相 / Tasuku Takagi / タカギ タスク |
| 第3著者 所属(和/英) |
東北大学名誉教授 (略称: 東北大名誉教授)
Em. Prof. Tohoku University (略称: Em. Prof. Tohoku University) |
| 第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
井上 浩 / Hiroshi Inoue / イノウエ ヒロシ |
| 第4著者 所属(和/英) |
秋田大学 (略称: 秋田大)
Akita University (略称: Akita Univ.) |
| 第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第5著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第6著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第7著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第8著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第9著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第10著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第11著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第12著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第13著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第14著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第15著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第16著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第17著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第18著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第19著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第20著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第21著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第21著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第22著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第22著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第23著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第23著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第24著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第24著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第25著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第25著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第26著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第26著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第27著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第27著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第28著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第28著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第29著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第29著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第30著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第30著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第31著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第31著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第32著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第32著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第33著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第33著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第34著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第34著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第35著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第35著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第36著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第36著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2008-07-18 16:05:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
EMD |
| 資料番号 |
EMCJ2008-48, EMD2008-30 |
| 巻番号(vol) |
vol.108 |
| 号番号(no) |
no.144(EMCJ), no.145(EMD) |
| ページ範囲 |
pp.43-48 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2008-07-11 (EMCJ, EMD) |