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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-08-01 10:00 見逃し欠陥の回帰テスト件数を考慮したコードレビュー手法 ○田村晃一・亀井靖高・上野秀剛・森崎修司・松村知子・松本健一（奈良先端大）  SS2008-23 |
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| 抄録 | （和） | テスト工程での欠陥修正には膨大な再テストが必要になるケースがあり，コストの増大や納期の遅延原因になるばかりでなく，テスト漏れによる2次欠陥の危険も伴う．本稿では，コードレビューでの見逃し欠陥の修正により必要となる回帰テスト件数を考慮したレビュー手法を提案する．提案手法では回帰テストの件数が大きくなると推定される欠陥を優先的に検出することで，テスト工数の削減が期待される．提案手法の評価として，テスト計画書を用いた本手法でレビューするグループと，特に何も指定せずレビューするグループ間で削減された回帰テスト件数を比較した．その結果，回帰テスト件数を考慮したコードレビュー手法の方が回帰テスト件数の削減に寄与する欠陥をより多く発見できることがわかった． |
| （英） | Some faults need many re-testing for fixing faults in test phase. These faults increase cost and delay of release, and may involve the risk of second fault for omiting the needed test. In this paper, using a test plan document, we conduct the review considering regression test cases for omitted fault in code review and evaluate its review technique effect. The reduction of test effort was expected by preferential detecting the fault that supposably derive many regression test cases. We compare its technique to Ad-hoc reading by the experiment that aim at code review. The result showed that the regression test-based reading could reduce more regression test cases than Ad-hoc reading. | |
| キーワード | （和） | ソフトウェアレビュー / テストケース / 回帰テスト / / / / / |
| （英） | Software Review / Test Case / Regression Test / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 173, SS2008-23, pp. 61-66, 2008年7月. | |
| 資料番号 | SS2008-23 | |
| 発行日 | 2008-07-24 (SS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SS2008-23 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SS |
| 開催期間 | 2008-07-31 - 2008-08-01 |
| 開催地（和） | 公立はこだて未来大学 |
| 開催地（英） | Future University-Hakodate |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | general |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SS |
| 会議コード | 2008-07-SS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 見逃し欠陥の回帰テスト件数を考慮したコードレビュー手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Code Review Technique to Reduce Regression Test Cases for Omitted Fault |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトウェアレビュー / Software Review |
| キーワード(2)（和/英） | テストケース / Test Case |
| キーワード(3)（和/英） | 回帰テスト / Regression Test |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田村 晃一 / Koichi Tamura / タムラ コウイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 亀井 靖高 / Yasutaka Kamei / カメイ ヤスタカ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 上野 秀剛 / Hidetake Uwano / ウワノ ヒデタケ |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 森崎 修司 / Shuuji Morisaki / モリサキ シュウジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松村 知子 / Tomoko Matsumura / マツムラ トモコ |
| 第5著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松本 健一 / Ken-ichi Matsumoto / マツモト ケンイチ |
| 第6著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-08-01 10:00:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | SS |
| 資料番号 | SS2008-23 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.173 |
| ページ範囲 | pp.61-66 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-07-24 (SS) |
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