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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-09-26 14:30 高出力電磁環境による情報技術装置の誤動作とイミュニティ限界についての検討 ○関口秀紀・瀬戸信二（NICT）・峯松育弥（関西電子工業振興センター）  EMCJ2008-53 |
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| 抄録 | （和） | 情報技術装置は，電磁妨害により誤動作（または機能の低下）・故障を引き起こす場合があり，一般的な使用環境における情報技術装置のイミュニティ(immunity) の許容値は，国際標準化規格により規定されている．一方，不法改造または使用用途を逸脱した送信機は，情報技術装置のイミュニティ許容値を上回る強力な電磁妨害波を発生することが可能であることから，情報セキュリティ分野では，情報技術装置に対する意図的電磁障害の可能性が危惧されている．そこで，本研究では，高出力電磁環境における情報技術装置の電磁妨害耐性を調査し，その試験方法について検討を行っている．本報告では，高出力電磁環境下に情報技術装置の1 つであるイーサネットハブ(Ethernet hub) を設置し、その電磁妨害耐性レベルと誤動作の関係を調査した結果を報告する． |
| （英） | Electromagnetic disturbances might cause information technology equipments (ITEs) to malfunction and to be broken down. International standardizations provide uniform requirements for the immunity of ITEs. However, the transmitter that is chopped or used illegally can radiate electromagnetic disturbance that is higher power than the immunity level of ITE. In terms of information security, the intentional lectromagnetic interference for ITEs becomes one of important issues, because by which information might not be able to communicate. In this study, the mmunity limit of ITEs is investigated under high-power electromagnetic (HPEM) environments that are discussed on a test method and environment built. This paper presents the investigation results of the relation between the malfunction and the immunity level of Ethernet hubs that are put in the HPEM environments. |
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| キーワード | （和） | 情報セキュリティ / 情報処理装置 / 意図的電磁妨害 / 高出力電磁環境 / イミュニティ / ハブ / / |
| （英） | information security / information technology equipments / intentional electromagnetic interference / high power electromagnetics environments / immunity / HUB / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 222, EMCJ2008-53, pp. 19-24, 2008年9月. | |
| 資料番号 | EMCJ2008-53 | |
| 発行日 | 2008-09-19 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2008-53 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
| 開催期間 | 2008-09-26 - 2008-09-26 |
| 開催地（和） | 大阪大学 |
| 開催地（英） | Osaka Univ. |
| テーマ（和） | 通信／一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2008-09-EMCJ |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 高出力電磁環境による情報技術装置の誤動作とイミュニティ限界についての検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Discussion about the Malfunction and the Electromagnetic Immunity of an Information Technology Equipment under HPEM environments |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 情報セキュリティ / information security |
| キーワード(2)（和/英） | 情報処理装置 / information technology equipments |
| キーワード(3)（和/英） | 意図的電磁妨害 / intentional electromagnetic interference |
| キーワード(4)（和/英） | 高出力電磁環境 / high power electromagnetics environments |
| キーワード(5)（和/英） | イミュニティ / immunity |
| キーワード(6)（和/英） | ハブ / HUB |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 関口 秀紀 / Hidenori Sekiguchi / セキグチ ヒデノリ |
| 第1著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構 (略称： NICT) National Institute of Information and Communications Technology (略称： NICT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 瀬戸 信二 / Shinji Seto / セト シンジ |
| 第2著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構 (略称： NICT) National Institute of Information and Communications Technology (略称： NICT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 峯松 育弥 / Ikuya Minematsu / ミネマツ イクヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | 関西電子工業振興センター (略称： 関西電子工業振興センター) Kansai Electronic Industry Development Center (略称： KEC) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-09-26 14:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2008-53 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.222 |
| ページ範囲 | pp.19-24 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-09-19 (EMCJ) |
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