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講演抄録/キーワード
講演名 2008-10-17 09:20
コードクローンの長さとソフトウェア信頼性の関係の分析
左藤裕紀亀井靖高上野秀剛門田暁人川口真司名倉正剛松本健一飯田 元奈良先端大SS2008-34
抄録 (和) ソースコード中の重複コード列であるコードクローンによって,ソフトウェアの保守工数が増大するといわれている.一方で,コードクローンがソフトウェアの信頼性に与える影響については明確にはわかっていない.本稿では,コードクローンとソフトウェアの信頼性の関係を分析するために,コードクローンの長さに着目した.開発プロジェクトのリポジトリを分析し,ソースコードファイルに含まれるコードクローンの長さによってファイルを分類し,それぞれのファイル群のバグ密度を計測した.その結果,短いコードクローンを含んでいるファイル群のバグ密度は大きく,長いコードクローンを含んでいるファイル群のバグ密度は小さいことがわかった.さらに各ソースコードの長さにバグ密度が影響を受けると考え,ソースコード行数にしたがってファイルを分類し,それぞれのファイル群においてバグ密度がどのように変化するのかを調べた.その結果,ソースコード行数が比較的長い場合において前述の傾向がより強くなることがわかった. 
(英) A code clone that is duplicated code section in source files makes software maintenance more difficult. However, to our knowledge, no study has analyzed how the code clone influences software reliability. In this paper, we focused on the length of the code clone in order to analyze the relation between software reliability and code clone. We analyzed a repository of a project, classified source code files according to the length of the code clone included in the files, and measured the bug density of each classified file group. As a result, it was clarified that (1) the bug density of the file group that contained a short code clone was high, and (2) the bug density of the file group that contained a long code clone was low. In addition, because we had thought the bug density was influenced from the length of each source code file , we classified the files by measuring lines of source code and examined how much the bug density of each file group changed. We observed that the result (1), (2) became more pronounced when lines of source code was comparatively large.
キーワード (和) コードクローン / コードクローンの長さ / ソフトウェア信頼性 / バグ密度 / / / /  
(英) Code clone / Length of code clone / Software reliability / Bug density / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 242, SS2008-34, pp. 43-48, 2008年10月.
資料番号 SS2008-34 
発行日 2008-10-09 (SS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SS2008-34

研究会情報
研究会 SS  
開催期間 2008-10-16 - 2008-10-17 
開催地(和) 山梨大学甲府キャンパス 
開催地(英) University of Yamanashi, Kofu Campus 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英) general 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SS 
会議コード 2008-10-SS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) コードクローンの長さとソフトウェア信頼性の関係の分析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) An analysis of relationship between code clone length and software reliability 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) コードクローン / Code clone  
キーワード(2)(和/英) コードクローンの長さ / Length of code clone  
キーワード(3)(和/英) ソフトウェア信頼性 / Software reliability  
キーワード(4)(和/英) バグ密度 / Bug density  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 左藤 裕紀 / Hiroki Sato / サトウ ヒロキ
第1著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 亀井 靖高 / Yasutaka Kamei / カメイ ヤスタカ
第2著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 上野 秀剛 / Hidetake Uwano / ウワノ ヒデタケ
第3著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 門田 暁人 / Akito Monden / モンデン アキト
第4著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 川口 真司 / Shinji Kawaguchi / カワグチ シンジ
第5著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 名倉 正剛 / Masataka Nagura / ナグラ マサタカ
第6著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 松本 健一 / Ken-ichi Matsumoto / マツモト ケンイチ
第7著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 飯田 元 / Hajimu Iida / イイダ ハジム
第8著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2008-10-17 09:20:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 SS 
資料番号 SS2008-34 
巻番号(vol) vol.108 
号番号(no) no.242 
ページ範囲 pp.43-48 
ページ数
発行日 2008-10-09 (SS) 


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