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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-11-17 15:40 柔軟な信頼性を実現する粗粒度再構成可能アーキテクチャの検討 ○高 永勲・Dawood Alnajjar・密山幸男・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大/JST）  VLD2008-73 DC2008-41 |
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| 抄録 | （和） | VLSI に要求される信頼性はアプリケーションと動作環境に依存するため、VLSI 設計者には信頼性を考慮した設計が求められる。そこで本稿では、柔軟な信頼性を実現する粗粒度再構成可能アーキテクチャを提案する。提案アーキテクチャは、4 つのセルを持つクラスタをその基本要素とし、4 つの動作モード(TMR, DMR，SMS，SMM)によって異なる冗長構成と信頼性を実現する。TMR モードは最も高い信頼性を実現する構成であり、3 重化した演算回路の出力をクラスタ内で多数決をとり、エラーの蓄積や伝搬を防ぐ。これにより、クラスタ内で起こったソフトエラーは、ロールバック操作をすることなく修復できる。各動作モードについて、ソフトエラーによる故障率を評価した結果、提案アーキテクチャで4 段階の異なる信頼性を実現できることを示した。また、柔軟な信頼性を実現するための付加回路による面積オーバヘッドは30.5% となった。 |
| （英） | Acceptable soft error rate on a VLSI chip varies depending on applications and operating environment so that recent VLSI designers concern reliability specification. In this paper, we propose a novel coarse-grained dynamically reconfigurable architecture, which offers flexible reliability. Introducing a notion of cluster cell, which comprises four execution modules, as a basic element of the proposed architecture, four operation modes (TMR, DMR, SMS, and SMM) can be realized with different redundancy and reliability levels. In the TMR operation mode, which attains the highest reliability level, outputs of three execution modules are voted inside of a cluster cell, making it possible to perform an error recovery without any rollback operations. Evaluation of soft error rates demonstrates that four different reliability levels can be achieved by the proposed architecture. The area of additional circuits to provide flexible reliability accounts for 30.5% of the proposed coarse-grained reconfigurable device. | |
| キーワード | （和） | 信頼性 / ソフトエラー / 粗粒度 / 再構成可能アーキテクチャ / TMR / / / |
| （英） | reliability / soft error / coarse-grained / reconfigurable architecture / TMR / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 299, DC2008-41, pp. 79-84, 2008年11月. | |
| 資料番号 | DC2008-41 | |
| 発行日 | 2008-11-10 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2008-73 DC2008-41 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2008-11-17 - 2008-11-19 |
| 開催地（和） | 北九州学術研究都市 |
| 開催地（英） | Kitakyushu Science and Research Park |
| テーマ（和） | デザインガイア2008 ―VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2008 ―New field of VLSI design― |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2008-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 柔軟な信頼性を実現する粗粒度再構成可能アーキテクチャの検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Coarse-Grained Reconfigurable Architecture with Flexible Reliability |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 信頼性 / reliability |
| キーワード(2)（和/英） | ソフトエラー / soft error |
| キーワード(3)（和/英） | 粗粒度 / coarse-grained |
| キーワード(4)（和/英） | 再構成可能アーキテクチャ / reconfigurable architecture |
| キーワード(5)（和/英） | TMR / TMR |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高 永勲 / Younghun Ko / コ ヨンフン |
| 第1著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大/JST) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | Dawood Alnajjar / Dawood Alnajjar / Dawood Alnajjar |
| 第2著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大/JST) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 密山 幸男 / Yukio Mitsuyama / ミツヤマ ユキオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大/JST) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋本 昌宜 / Masanori Hashimoto / ハシモト マサノリ |
| 第4著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大/JST) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 尾上 孝雄 / Takao Onoye / オノエ タカオ |
| 第5著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大/JST) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-11-17 15:40:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2008-73, DC2008-41 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.298(VLD), no.299(DC) |
| ページ範囲 | pp.79-84 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-11-10 (VLD, DC) |
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