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| 講演名 | 2008-11-18 13:45 ［招待講演］スーパーコンピューターSXにおける熱設計およびオンチップ温度観測 ○梶田幹浩・實吉永典・野瀬浩一・水野正之（NEC）  CPM2008-91 ICD2008-90 |
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| 抄録 | （和） | NECでは、最先端のプロセステクノロジを用いたスーパーコンピュータの開発を行っている。最新のプロセッサでは、集積密度が著しく上がった結果、電力密度も大幅に増加し、LSI温度上昇が危機的な状況にある。このため、近年のプロセッサでは、温度をモニタしながら動作制御を行うことが要求されており、NECのスーパーコンピュータSX-9でも、新規開発したオンチップ温度センサを用いて動作制御を行っている。今回は、この温度センサおよび、センサを用いた熱設計について紹介する。 |
| （英） | NEC has developed supercomputers "SX" using the leading-edge LSI technologies. In the latest microprocessors, CMOS transistors are integrated over die with high density, which may result in an enormous increase in power density. To prevent this critical increase in power consumption, we have proposed a thermal sensor based on transistor off-leakage current, that allows measurement error of less than 3.1℃ even at high temperature. In this paper, we present our thermal sensor and our thermal design using this sensor. | |
| キーワード | （和） | スーパーコンピュータ / 熱設計 / オンチップ温度観測 / オフ電流 / / / / |
| （英） | supercompurter / thermal design / on-die thermal sensing / off leakage current / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 302, ICD2008-90, pp. 13-18, 2008年11月. | |
| 資料番号 | ICD2008-90 | |
| 発行日 | 2008-11-11 (CPM, ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPM2008-91 ICD2008-90 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2008-11-17 - 2008-11-19 |
| 開催地（和） | 北九州学術研究都市 |
| 開催地（英） | Kitakyushu Science and Research Park |
| テーマ（和） | デザインガイア2008 ―VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2008 ―New field of VLSI design― |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2008-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | スーパーコンピューターSXにおける熱設計およびオンチップ温度観測 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Thermal design and on-die thermal sensing in the SX supercompurters |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | スーパーコンピュータ / supercompurter |
| キーワード(2)（和/英） | 熱設計 / thermal design |
| キーワード(3)（和/英） | オンチップ温度観測 / on-die thermal sensing |
| キーワード(4)（和/英） | オフ電流 / off leakage current |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶田 幹浩 / Mikihiro Kajita / カジタ ミキヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC Corporation) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 實吉 永典 / Eisuke Saneyoshi / サネヨシ エイスケ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC Corporation) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 野瀬 浩一 / Koichi Nose / ノセ コウイチ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC Corporation) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 水野 正之 / Masayuki Mizuno / ミズノ マサユキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC Corporation) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-11-18 13:45:00 |
| 発表時間 | 45分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | CPM2008-91, ICD2008-90 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.301(CPM), no.302(ICD) |
| ページ範囲 | pp.13-18 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-11-11 (CPM, ICD) |
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