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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-11-18 10:30 ［ポスター講演］テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法 ○平本和子・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大）  VLD2008-80 DC2008-48 |
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| 抄録 | （和） | 本研究では，テストポイント挿入によるテストデータ量の削減法を考案する．故障の中には，同じ信号線に異なる値の割当を必要とするため，同一のテストパターンでは検出できない関係にある故障が存在する．これらの故障はテストポイントの挿入によりその必須割当の衝突を解消でき，同じテストパターンで検出可能となる場合がある．本研究ではこの事実に着目し，テストポイント挿入により解消される必須割当の衝突解消度を示す評価尺度とその評価尺度に基づくスキャン設計のためのテストポイント挿入アルゴリズムを提案する．実験により，テストデータ量を最小にする最適なテストポイント数が存在すること，また，従来法の尺度に比べて提案する評価尺度がテストパターン数を削減可能であることを示す．提案するテストポイント挿入法は少ないテストポイントでテストパターン数だけでなくテストデータ量の削減が可能である． |
| （英） | In this work, we discuss a method for reducing test data by test point insertion. Focusing on the fact that test points can resolve conflicts among faults that require different assignments to identical signal lines for detection, we propose a measure of test points for the ability to resolve such fault conflict based on necessary assignments for fault detection. We also present an algorithm for inserting test points in scan design based on the proposed test point measure. The analytical results with experiments show that, there exists an optimal number of test points which minimizes the amount of test data (or the test application time). Experimental results show that our test point insertion method is effective in reducing the test data volume, not just the number of test patterns, with a few test points, and the proposed test point measure is more effective in reducing the test patterns than the mesure reported in previous works. |
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| キーワード | （和） | テストポイント / テストデータ量削減 / 含意操作 / 必須割当 / 故障の衝突 / / / |
| （英） | Test Point / test data reduction / implication / necessary assignment / fault conflict / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 299, DC2008-48, pp. 121-126, 2008年11月. | |
| 資料番号 | DC2008-48 | |
| 発行日 | 2008-11-10 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2008-80 DC2008-48 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2008-11-17 - 2008-11-19 |
| 開催地（和） | 北九州学術研究都市 |
| 開催地（英） | Kitakyushu Science and Research Park |
| テーマ（和） | デザインガイア2008 ―VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2008 ―New field of VLSI design― |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2008-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Test Point Insertion Method for Test Data Reduction Based on Necessary Assignment |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | テストポイント / Test Point |
| キーワード(2)（和/英） | テストデータ量削減 / test data reduction |
| キーワード(3)（和/英） | 含意操作 / implication |
| キーワード(4)（和/英） | 必須割当 / necessary assignment |
| キーワード(5)（和/英） | 故障の衝突 / fault conflict |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 平本 和子 / Kazuko Hiramoto / ヒラモト カズコ |
| 第1著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉川 祐樹 / Yuki Yoshikawa / ヨシカワ ユウキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-11-18 10:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2008-80, DC2008-48 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.298(VLD), no.299(DC) |
| ページ範囲 | pp.121-126 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-11-10 (VLD, DC) |
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