| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-12-11 13:30 ［ポスター講演］デジタルLSIにおける電源ノイズと動作不良の解析手法 ○澤田卓也・永田 真（神戸大）  ICD2008-110 |
|
| 抄録 | （和） | 大規模デジタルLSIにおけるダイナミック電源雑音シミュレーションを行った． シミュレーションには時系列分割寄生容量（TSDPC）モデルを用いた電源電流モデル化手法を使用した． オンチップ雑音モニタを搭載した32-bit RISCマイクロプロセッサチップを90-nmCMOSプロセスで開発し，雑音モニタにより取得した実測結果との比較をすることで解析技術の評価を行った． 雑音波形の比較と共に,デジタルLSI内部に多数配置したオンチップ雑音モニタを用いて実測結果と解析結果の雑音振幅の面内分布の比較を行った． 一方で，プロセッサの動作エラーを検出するための命令レベルプログラミング手法を開発した． エラー検出手法を用いて実測評価を行った結果，動作エラー発生率が電圧降下量に対して閾値を持って発生する可能性があることを見出した． |
| （英） | Dynamic power-supply noise is analyzed in large-scale CMOS digital LSI. For the analysis, power-supply current modeling technique by a time series division parasitism capacity sequence(TSDPC) model as power-supply analysis technology is used. Comparison evaluation of the measurement result of power-supply noise and a simulation result is performed in a 32-bit microprocessor of 90-nm CMOS technology with on-chip noise monitors. On the other hand, instruction-level programming for logical failure analysis is proposed. Experimental measurements demonstrate that the amount of voltage drop influences failure susceptibility of digital circuit operation. |
|
| キーワード | （和） | 電源雑音解析 / 電源電流モデル / 動作エラー解析 / 電圧降下量 / / / / |
| （英） | power-supply noise analysis / power-supply current model / failure analysis / an amount of power-supply drop / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 347, ICD2008-110, pp. 47-50, 2008年12月. | |
| 資料番号 | ICD2008-110 | |
| 発行日 | 2008-12-04 (ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2008-110 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
| 開催期間 | 2008-12-11 - 2008-12-12 |
| 開催地（和） | 東工大（大岡山）国際交流会館 |
| 開催地（英） | Tokyo Inst. Tech., Ohokayama Campus, Kokusa-Kouryu-Kaikan |
| テーマ（和） | 学生・若手研究会 |
| テーマ（英） | Workshop for Graduate Student and Young Researchers |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2008-12-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | デジタルLSIにおける電源ノイズと動作不良の解析手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Simulation Techniques for Power Supply Noise and Operation Failures in Digital LSI |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電源雑音解析 / power-supply noise analysis |
| キーワード(2)（和/英） | 電源電流モデル / power-supply current model |
| キーワード(3)（和/英） | 動作エラー解析 / failure analysis |
| キーワード(4)（和/英） | 電圧降下量 / an amount of power-supply drop |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤田 卓也 / Takuya Sawada / サワダ タクヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
| 第2著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-12-11 13:30:00 |
| 発表時間 | 165分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2008-110 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.347 |
| ページ範囲 | pp.47-50 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2008-12-04 (ICD) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]