| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-02-16 13:50 組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法 ○高橋 寛・樋上喜信・和泉太佑・相京 隆・高松雄三（愛媛大）  DC2008-73 |
|
| 抄録 | （和） | 微細化加工技術の進展に伴って，配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている． そのため，品質保証のために，従来の縮退故障に加えてブリッジ故障およびオープン故障を検出できるテストパターンが必要となっている． 本稿では，多様な故障モデルの故障励起条件を利用した欠陥考慮テストパターンの生成法を提案する． 提案手法では，テストパターンの欠陥検出確率に基づいて，与えられたテストパターン集合から欠陥考慮テストパターンを選択する． 評価実験結果から，提案手法により得られた欠陥考慮テストパターン集合は，より少ないテストパターン数でより多くの故障モデルを検出できることを示す． |
| （英） | With shrinking of LSIs, the diversification of defective mode due to defects becomes a critical issue. Therefore, the test patterns that can detect bridging faults and open faults are needed to maintain the reliability of LSIs. In this paper, we propose a method for generating the defect diagnostic test patterns by considering fault excitation conditions for various fault models. The proposed method uses the defect detection probability derived from the fault excitation functions to select the defect diagnostic test patterns form a given test pattern set. From the experimental results, we show that the set of defect diagnostic test patterns can detect more fault models under the less number of test patterns. |
|
| キーワード | （和） | 欠陥 / 欠陥考慮テストパターン / 故障励起関数 / テストパターン選択 / / / / |
| （英） | defect / defect oriented test pattern / fault excitation function / method for selecting test patterns / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 431, DC2008-73, pp. 31-36, 2009年2月. | |
| 資料番号 | DC2008-73 | |
| 発行日 | 2009-02-09 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2008-73 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2009-02-16 - 2009-02-16 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2009-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A method for generating defect oriented test patterns for combinational circuits |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 欠陥 / defect |
| キーワード(2)（和/英） | 欠陥考慮テストパターン / defect oriented test pattern |
| キーワード(3)（和/英） | 故障励起関数 / fault excitation function |
| キーワード(4)（和/英） | テストパターン選択 / method for selecting test patterns |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ |
| 第2著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和泉 太佑 / Taisuke Izumi / イズミ タイスケ |
| 第3著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 相京 隆 / Takashi Aikyo / アイキョウ タカシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高松 雄三 / Yuzo Takamatsu / タカマツ ユウゾウ |
| 第5著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-02-16 13:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2008-73 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.431 |
| ページ範囲 | pp.31-36 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2009-02-09 (DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]