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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-02-16 16:10 A Secure Scan Design Approach using Extended de Bruijn Graph Hideo Fujiwara・○Marie Engelene J. Obien（NAIST）  DC2008-78 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | Scan design makes digital circuits easily testable, however, it can also be exploited to be used for hacking the chip. This paper introduces a new secure scan design approach using extended de Bruijn graph, which aims to satisfy both testability and security of digital circuits. The approach is only to replace the original scan chains to modified scan registers called extended scan registers. This method requires very little area overhead and no performance overhead. Moreover, no additional keys and controller circuits outside of the scan chain are needed, thus making the scheme low-cost and efficient. | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | Secure scan design / Security / Testability / Design-for-test / Extended de Bruijn graph / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 431, DC2008-78, pp. 61-66, 2009年2月. | |
| 資料番号 | DC2008-78 | |
| 発行日 | 2009-02-09 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2008-78 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2009-02-16 - 2009-02-16 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2009-02-DC |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Secure Scan Design Approach using Extended de Bruijn Graph |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / Secure scan design |
| キーワード(2)（和/英） | / Security |
| キーワード(3)（和/英） | / Testability |
| キーワード(4)（和/英） | / Design-for-test |
| キーワード(5)（和/英） | / Extended de Bruijn graph |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤原 秀雄 / Hideo Fujiwara / フジワラ ヒデオ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | オビエン・マリー・エンジェリン ジメネス / Marie Engelene J. Obien / |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 講演者 | 第2著者 |
| 発表日時 | 2009-02-16 16:10:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2008-78 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.431 |
| ページ範囲 | pp.61-66 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2009-02-09 (DC) |
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