| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2009-04-24 13:25
パルス電界常圧プラズマCVD法を用いたプラスチック基板上Si成長 ○村重正悟・松本光正・稲吉陽平・末光眞希(東北大)・中嶋節男・上原 剛(積水化学)・豊島安健(産総研) ED2009-15 |
| 抄録 |
(和) |
パルス電界常圧プラズマCVD法を用いてPET基板上に多結晶Si(Poly-Si)成長を行い,Raman散乱分光法および透過電子顕微鏡(TEM)観察によりSi薄膜の結晶構造評価を行った.Poly-Si膜の結晶化率は80%以上の高い値を示した.また成長速度は40nm/minと高速であり,インキュベーション層を介さずに基板直上からSi成長していることが確認された. |
| (英) |
Polycrystalline Si films have been deposited on polyethylene terephthalate(PET) substrates using pulsed-plasma CVD under normal pressures. Crystalline structure of the Si films was evaluated by Raman scattering spectroscopy and transmission electron microscopy (TEM). The poly-Si film shows a high crystallinity of 80% or more. A growth rate as high as 40nm/min is obtained and direct growth of the Si polycrystallites on the PET substrate without incubation layers was confirmed. |
| キーワード |
(和) |
多結晶Si / プラズマCVD / ポリエチレンテレフタレート / パルス / 大気圧 / / / |
| (英) |
Polycrystalline silicon / PECVD / Polyethylene terephthalate / Pulsed / Atmospheric pressure / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 109, no. 16, ED2009-15, pp. 63-67, 2009年4月. |
| 資料番号 |
ED2009-15 |
| 発行日 |
2009-04-16 (ED) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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ED2009-15 |