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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-05-22 10:00 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗について(その5) ～ 和田真一・○園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大）  EMCJ2009-10 EMD2009-2 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2009-2 |
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| 抄録 | （和） | 著者らは，鉛直方向のハンマリング加振によって電気接点に実用的な振動を与える機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を検討した． まず，ハンマリング加振に対する数学的モデルを定義し逆問題の解析方法を用いて理論的なアプローチを実施した．系に加える外力としてデルタ関数及びステップ関数を用い，本機構に対して簡便なモデル化とシミュレーションを実施した．その結果，微小振動影響下における現実の接点の劣化現象に対して加速試験が行えることが示唆された． 次に，３条件(150G & 2.0N, 150G & 0.3N and 400G & 2.0N)下において，電気接点に起きた時系列変動を測定した．接触抵抗の変動は３条件すべてで測定されたが，接触抵抗値・立ち上がり時期などの点でおのおの異なることが示された． 原因・要因については，その他の電気的・機械的・物理的・化学的要因についてもさらに注目しながら，注意深く検討すべきであると考える． |
| （英） | Authors developed the mechanism which gave real vibration to electrical contacts by hammering oscillation in the vertical direction, and studied the influences of a micro-oscillating on contact resistance. First, they defined the mathematical model toward hammering oscillating mechanism and carried out theoretical approach by using solution methods for inverse problems. By delta function and step function as an external force, they have simply made modeling and simulation for the mechanism. It was suggested that the mechanism could make an acceleration test of actual degradation phenomenon on contacts by the influences of a micro-oscillation. Second, they measured the fluctuations of the electrical contacts in the three conditions (150G & 2.0N, 150G & 0.3N and 400G & 2.0N). It was shown that the fluctuations were occurred in all cases but the time-series pattern of the fluctuation was different from each other in the points of contact resistance, starting number and so forth. It should be considered more carefully that how is the phenomenon occurred to pay much more attentions to other factors like those of electrical, mechanical, physical and chemical factors. |
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| キーワード | （和） | 電気接点 / 加振機構 / 接触抵抗 / ハンマリング加振機構 / 加速試験 / 数学モデル / シミュレーション / 時系列変動 |
| （英） | electrical contact / oscillating mechanism / contact resistance / hammering oscillating mechanism / acceleration test / mathematical model / simulation / time series fluctuation | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 45, EMD2009-2, pp. 7-13, 2009年5月. | |
| 資料番号 | EMD2009-2 | |
| 発行日 | 2009-05-15 (EMCJ, EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2009-10 EMD2009-2 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2009-2 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD EMCJ |
| 開催期間 | 2009-05-22 - 2009-05-22 |
| 開催地（和） | 日本工業大学 神田キャンパス |
| 開催地（英） | Kanda camupus, Nippon Institute of Technology |
| テーマ（和） | 放電・EMC/一般 |
| テーマ（英） | Electrical discharge and EMC/general |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2009-05-EMD-EMCJ |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 |
| サブタイトル（和） | 接触抵抗について(その5) |
| タイトル（英） | Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism |
| サブタイトル（英） | Contact Resistance (V) |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 加振機構 / oscillating mechanism |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | 加速試験 / acceleration test |
| キーワード(6)（和/英） | 数学モデル / mathematical model |
| キーワード(7)（和/英） | シミュレーション / simulation |
| キーワード(8)（和/英） | 時系列変動 / time series fluctuation |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co.Ltd. (略称： TMC System Co.Ltd.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 園田 健人 / Taketo Sonoda / ソノダ タケト |
| 第2著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co.Ltd. (略称： TMC System Co.Ltd.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ |
| 第3著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co.Ltd. (略称： TMC System Co.Ltd.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 菊地 光男 / Mitsuo Kikuchi / キクチ ミツオ |
| 第4著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co.Ltd. (略称： TMC System Co.Ltd.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ |
| 第5著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co.Ltd. (略称： TMC System Co.Ltd.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ |
| 第6著者 所属（和/英） | 慶応大学 (略称： 慶大) Keio University K2 Campus, (略称： Keio Univ.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第2著者 |
| 発表日時 | 2009-05-22 10:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMCJ2009-10, EMD2009-2 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.44(EMCJ), no.45(EMD) |
| ページ範囲 | pp.7-13 |
| ページ数 | 7 |
| 発行日 | 2009-05-15 (EMCJ, EMD) |
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