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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-05-28 14:50 電磁界シミュレータを用いたディエンベディング手法 ○平野拓一（東工大）・中野 洋・平地康剛（アムシス）・広川二郎・安藤 真（東工大）  MW2009-15 |
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| 抄録 | （和） | MMICを高精度に設計するためには正確にFETの特性を知る必要がある。従来より、FET-TEGとOpen/Short-TEGのSパラメータ実測および等価回路を仮定する方法が用いられている。著者らは、電磁界(EM)シミュレータを併用した、より高精度なディエンベディング手法を提案した。提案手法では、４ポート寄生回路のSパラメータを電磁界シミュレータで解析し、行列演算によって内部に埋め込まれた２ポートの集中定数素子のZ(Y)行列を抽出する。また、従来のディエンベディング手法では、(1)寄生回路を等価回路で近似すること、そして、(2)Open/Short-TEGのパターンを理想的な集中定数のOpen/Shortと見なすことの２点が不安要因であり、精度の悪化が懸念されていた。 (1)が誤差の主要因であることがわかった。 |
| （英） | Accurate characterization of field effect transistors (FETs) is necessary for precise design of monolithic-microwave integrated-circuits (MMICs). Extraction of FET parameters, or characterization, is difficult because the FET is embedded in the parasitic circuit, which is referred to as test element group (TEG), to connect probe and bias. De-embedding method using open/short-TEG had been widely used in characterization of FETs. But two approximations are used in the conventional de-embedding method using open/short-TEG [1]; (1) incompleteness of open and short pattern, and (2) approximation of a parasitic circuit by an equivalent circuit topology. Those approximations cause ambiguity and non-negligible error especially in high frequency band. So, the authors have proposed the de-embedding method using EM simulator, which is more accurate than the conventional de-embedding method. In the proposed method, S-parameters of the four-port parasitic circuit are analyzed by the EM simulator, and unknown two-port Z(Y)-parameters of the embedded lumped-element device are extracted via matrix algebra. It is verified via numerical simulation that the proposed de-embedding method has higher accuracy than the conventional one, and the error factor in the conventional de-embedding method is mainly due to the equivalent circuit approximation of the parasitic circuit. | |
| キーワード | （和） | MMIC / FET / ディエンベディング / 抽出 / 電磁界シミュレータ / 集中定数素子 / / |
| （英） | MMIC / FET / De-embedding / Extraction / EM simulator / Lumped-element / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 62, MW2009-15, pp. 35-40, 2009年5月. | |
| 資料番号 | MW2009-15 | |
| 発行日 | 2009-05-21 (MW) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | MW2009-15 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
| 開催期間 | 2009-05-28 - 2009-05-28 |
| 開催地（和） | 岡山大 |
| 開催地（英） | Okayama Univ. |
| テーマ（和） | マイクロ波一般 |
| テーマ（英） | Microwave Technologies |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | MW |
| 会議コード | 2009-05-MW |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 電磁界シミュレータを用いたディエンベディング手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | De-embedding Method Using EM Simulator |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | MMIC / MMIC |
| キーワード(2)（和/英） | FET / FET |
| キーワード(3)（和/英） | ディエンベディング / De-embedding |
| キーワード(4)（和/英） | 抽出 / Extraction |
| キーワード(5)（和/英） | 電磁界シミュレータ / EM simulator |
| キーワード(6)（和/英） | 集中定数素子 / Lumped-element |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 平野 拓一 / Takuichi Hirano / ヒラノ タクイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中野 洋 / Hiroshi Nakano / ナカノ ヒロシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 株式会社アムシス (略称： アムシス) AMMSYS. Inc. (略称： AMMSYS. Inc.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 平地 康剛 / Yasutake Hirachi / ヒラチ ヤスタケ |
| 第3著者 所属（和/英） | 株式会社アムシス (略称： アムシス) AMMSYS. Inc. (略称： AMMSYS. Inc.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 広川 二郎 / Jiro Hirokawa / ヒロカワ ジロウ |
| 第4著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Inst. of Tech.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 安藤 真 / Makoto Ando / アンドウ マコト |
| 第5著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Inst. of Tech.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-05-28 14:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | MW |
| 資料番号 | MW2009-15 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.62 |
| ページ範囲 | pp.35-40 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2009-05-21 (MW) |
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