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講演抄録/キーワード
講演名 2009-06-19 11:10
閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察
出水伸和吉川祐樹市原英行井上智生広島市大DC2009-12
抄録 (和) 回路に故障が存在しても出力に重大な影響を与えない故障を許容故障という.
許容故障を考慮した16値論理に基づく閾値テスト生成アルゴリズムが提案されている.
このアルゴリズムでは,16値論理を用いているため,故障の誤りの大きさの上界と下界を高い精度で計算することができるものの,
外部入力への1つの値の割当てから行う含意操作の計算量は大きい.
本論文では,閾値テスト生成の高速化を目的とした5値論理に基づく閾値テスト生成アルゴリズムを提案する.
5値論理は,16値論理に比べて外部入力値の割当てから行う含意操作の計算量が小さいため,閾値テスト生成の高速化が期待できる.
5値論理を用いて,小さい計算量でできるだけ高い精度で誤りの上界と下界を求めるために,提案手法では$X$パス検査の結果を利用する.
ISCAS'85 ベンチマークを用いた実験結果から,16値論理に基づく閾値テスト生成アルゴリズムに比べて,提案手法は短時間で閾値テストパターンを生成
可能であることを示す. 
(英) If the existence of a fault in a circuit only causes negligible effect on its application,
the fault is said to be acceptable. A method for generating test patterns of unacceptable faults for a given threshold
has been presented.
The test generation algorithm in the method works based on 16-valued logic,
and hence it can tightly evaluate the upper and lower bounds of errors , whereas
it may require large computational effort for the implication from every assignment
at primary inputs.
In this paper, we propose a new threshold test generation algorithm based on 5-valued
logic instead of 16-valued one.
In order to estimate the upper and lower bounds of errors as tight as possible with small computational
effort, the algorithm utilizes the result of $X$-path checking, which is an essential procedure
in the original PODEM, to the error estimation.
Experimental results show that the proposed algorithm can generate threshold test patterns
with small computational time compared with that based on 16-valued logic.
キーワード (和) 許容故障 / 閾値テスト生成 / 誤りの深刻さ / PODEM / 5値論理 / / /  
(英) acceptable faults / threshold test generation / error significance / PODEM / 5-valued logic / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 95, DC2009-12, pp. 13-18, 2009年6月.
資料番号 DC2009-12 
発行日 2009-06-12 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2009-12

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2009-06-19 - 2009-06-19 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 設計/テスト/検証 
テーマ(英) Design, Test, Verification 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2009-06-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Test Generation Algorithm Based on 5-valued Logic for Threshold Testing 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 許容故障 / acceptable faults  
キーワード(2)(和/英) 閾値テスト生成 / threshold test generation  
キーワード(3)(和/英) 誤りの深刻さ / error significance  
キーワード(4)(和/英) PODEM / PODEM  
キーワード(5)(和/英) 5値論理 / 5-valued logic  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 出水 伸和 / Nobukazu Izumi / イズミ ノブカズ
第1著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉川 祐樹 / Yuki Yoshikawa / ヨシカワ ユウキ
第2著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ
第3著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ
第4著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2009-06-19 11:10:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2009-12 
巻番号(vol) vol.109 
号番号(no) no.95 
ページ範囲 pp.13-18 
ページ数
発行日 2009-06-12 (DC) 


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