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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-06-30 15:25 マイクロ波電力増幅器における熱メモリ効果3次相互変調ひずみの補償法の提案と実験的検証 ○木村淳一・石川 亮・高橋幸夫・本城和彦（電通大）  MW2009-27 |
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| 抄録 | （和） | 熱メモリ効果により発生する3次相互変調ひずみの補償方法を提案し，その効果を実験的に検証した．また，熱メモリ効果によって生じるひずみの補償に関してボルテラ級数を用いて解析を行った．本手法は増幅器のベースバイアス回路にRCの多段はしご型回路を挿入し，差周波帯域のインピーダンスを制御することによりメモリ効果を補償するものである．最適化された補償回路をInGaP/GaAs HBT増幅器に適用することで，3次相互変調ひずみの上側および下側間の非対称性が改善され，さらに絶対値が低減されることが実験的に確認された． |
| （英） | A compensation method for 3rd order Intermodulation Distortion (IMD3) caused by a thermal memory effect in microwave power amplifier using an InGaP/GaAs HBT has been proposed, and verified experimentally. In addition, the IMD3 compensation method was analyzed by using the Volterra series. An RC-ladder network was inserted into base bias circuit of the amplifier to compensate the thermal memory effect by controlling impedance at sub-harmonic frequencies. Using the optimized compensation circuit, it was confirmed that asymmetry between upper and lower components of IMD3 was improved and their absolute values were decreased. | |
| キーワード | （和） | 電力増幅器 / 3次相互変調ひずみ / 熱メモリ効果 / 多段RCはしご型回路 / HBT / / / |
| （英） | Power amplifier / 3rd order Intermodulation Distortion / Thermal memory effect / RC-ladder network / HBT / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 109, MW2009-27, pp. 45-50, 2009年6月. | |
| 資料番号 | MW2009-27 | |
| 発行日 | 2009-06-23 (MW) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | MW2009-27 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
| 開催期間 | 2009-06-30 - 2009-06-30 |
| 開催地（和） | 名工大 |
| 開催地（英） | Nagoya Institute of Technology |
| テーマ（和） | マイクロ波信号発生と計測技術／一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | MW |
| 会議コード | 2009-06-MW |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | マイクロ波電力増幅器における熱メモリ効果3次相互変調ひずみの補償法の提案と実験的検証 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Compensation Method of Intermodulation Distortion by Thermal Memory Effect for Microwave Power Amplifiers |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電力増幅器 / Power amplifier |
| キーワード(2)（和/英） | 3次相互変調ひずみ / 3rd order Intermodulation Distortion |
| キーワード(3)（和/英） | 熱メモリ効果 / Thermal memory effect |
| キーワード(4)（和/英） | 多段RCはしご型回路 / RC-ladder network |
| キーワード(5)（和/英） | HBT / HBT |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 木村 淳一 / Junichi Kimura / キムラ ジュンイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | 電気通信大学 (略称： 電通大) The University of Electro-Communications (略称： The Univ. of Electro-Comm.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 石川 亮 / Ryo Ishikawa / イシカワ リョウ |
| 第2著者 所属（和/英） | 電気通信大学 (略称： 電通大) The University of Electro-Communications (略称： The Univ. of Electro-Comm.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 幸夫 / Yukio Takahashi / タカハシ ユキオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 電気通信大学 (略称： 電通大) The University of Electro-Communications (略称： The Univ. of Electro-Comm.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 本城 和彦 / Kazuhiko Honjo / ホンジョウ カズヒコ |
| 第4著者 所属（和/英） | 電気通信大学 (略称： 電通大) The University of Electro-Communications (略称： The Univ. of Electro-Comm.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-06-30 15:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | MW |
| 資料番号 | MW2009-27 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.109 |
| ページ範囲 | pp.45-50 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2009-06-23 (MW) |
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