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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-10-01 10:00 マイクロプロセッサにおける基板ノイズの評価と解析 ○坂東要志（神戸大）・小坂大輔（エイアールテック）・横溝剛一・坪井邦彦（半導体理工学研究センター）・Ying Shiun Li・Shen Lin（Apache）・永田 真（神戸大/エイアールテック）  ICD2009-35 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2009-35 |
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| 抄録 | （和） | SoC をターゲットとした電源・基板雑音の統合解析手法について、90nm CMOS 技術によるマイクロプロセッサ・チップに適用し、オンチップ雑音モニタによる測定データと比較検証した。テストチップには、プロセッサコア内部に12 箇所の電源雑音・グラウンド雑音観測点を設け、さらにプロセッサコアの周辺に120 箇所の観測点を有する基板雑音評価エリアを配置し、電源・基板雑音の時間波形及び空間分布の実験評価を実現した。電源雑音および基板雑音の定量的なシミュレーションにおいて、デジタル回路における雑音発生のモデリングに加え、オンチップの雑音伝搬経路であるシリコン基板、およびオフチップのパッケージやボードを含む電源供給系の寄生インピーダンスを考慮することが重要であることを実証した。 |
| （英） | An integrated power and substrate noise analysis environment targeting systems-on-chip (SoC) design was verified through comparison with on-chip noise measurements of a microprocessor chip in a 90-nm CMOS technology. The test chip includes 12 pairs of power and ground noise monitors within a processor and also embedds substrate noise evaluation areas with 120 probing points, realizing power and substrate noise measurements in terms of time-domain dynamic waveforms and spacial distribution. In addition to noise generation in digital circuits, noise propagation through on-chip silicon substrate and off-chip package and board impedances needs to be carefully considered for quantitative and quality power noise simulation. | |
| キーワード | （和） | 電源雑音 / 基板雑音 / シリコン検証 / オンチップノイズモニタ / / / / |
| （英） | power noise / substrate noise / silicon correlation / on-chip noise monitor / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 214, ICD2009-35, pp. 11-14, 2009年10月. | |
| 資料番号 | ICD2009-35 | |
| 発行日 | 2009-09-24 (ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2009-35 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2009-35 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD ITE-IST |
| 開催期間 | 2009-10-01 - 2009-10-02 |
| 開催地（和） | キャンパス・イノベーションセンター東京（田町） |
| 開催地（英） | CIC Tokyo (Tamachi) |
| テーマ（和） | アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路 |
| テーマ（英） | Analog, Mixed analog and digital, RF, and sensor interface circuitry |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2009-10-ICD-IST |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | マイクロプロセッサにおける基板ノイズの評価と解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation and Analysis of Substrate Noise in Microprocessor |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電源雑音 / power noise |
| キーワード(2)（和/英） | 基板雑音 / substrate noise |
| キーワード(3)（和/英） | シリコン検証 / silicon correlation |
| キーワード(4)（和/英） | オンチップノイズモニタ / on-chip noise monitor |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 坂東 要志 / Yoji Bando / バンドウ ヨウジ |
| 第1著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小坂 大輔 / Daisuke Kosaka / コサカ ダイスケ |
| 第2著者 所属（和/英） | 株式会社 エイアールテック (略称： エイアールテック) A-R-Tec Corp. (略称： A-R-Tec) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 横溝 剛一 / Goichi Yokomizo / ヨコミゾ ゴウイチ |
| 第3著者 所属（和/英） | 半導体理工学研究センター (略称： 半導体理工学研究センター) Semiconductor Technology Academic Research Center (略称： STARC) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 坪井 邦彦 / Kunihiko Tsuboi / ツボイ クニヒコ |
| 第4著者 所属（和/英） | 半導体理工学研究センター (略称： 半導体理工学研究センター) Semiconductor Technology Academic Research Center (略称： STARC) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | Ying Shiun Li / Ying Shiun Li / Ying Shiun Li |
| 第5著者 所属（和/英） | Apache Design Solutions (略称： Apache) Apache Design Solutions (略称： Apache) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | Shen Lin / Shen Lin / Shen Lin |
| 第6著者 所属（和/英） | Apache Design Solutions (略称： Apache) Apache Design Solutions (略称： Apache) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
| 第7著者 所属（和/英） | 神戸大学/株式会社 エイアールテック (略称： 神戸大/エイアールテック) Kobe University/A-R-Tec Corp. (略称： Kobe Univ./A-R-Tec) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-10-01 10:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2009-35 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.214 |
| ページ範囲 | pp.11-14 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2009-09-24 (ICD) |
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