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講演抄録/キーワード
講演名 2009-11-20 13:55
遅延観測方式によるチップ内電源ノイズの観測
植松 裕大坂英樹鈴木英一柳生正義齊藤達也日立EMCJ2009-83
抄録 (和) 給電系設計のためのチップ内電源ノイズ評価手法として,インバータ回路の電位変動を出力波形の遅延変動量に変換し外部でこれを観測するノイズ波形評価手法を開発した.本手法では、段数切替可能な多段インバータ回路を用いることで,インバータ段数変更に伴なう電圧分解能と観測可能な周波数帯域のトレードオフを解消した.90nm CMOS テクノロジーを用いて本測定手法に基づくテストチップを開発し,50 段インバータ回路では320$\mu m^2$ の小サイズながら電圧分解能1mV,時間分解能20ps を実現し,周波数160MHz のチップ-パッケージ共振に由来するチップ内部の電源ノイズ波形の観測に成功した. 
(英) To evaluate an on-chip power supply noise waveforms for power integrity design, we have developed a
technique for measuring on-chip voltage waveforms. To overcome the trade-off in the voltage resolution and the
measurable frequency band, we designed inverter chain circuits that have the different lengths of series inverters: the
short chain provides the high frequency and the low resolution, while the long chain provides the low frequency and the high resolution. We measured the on-chip noise waveforms using a 90-nm CMOS test chip with a 50-inverter chain circuit as small as 320 square micrometers, confirming that the circuit could achieve a voltage resolution of 1 mV and temporal resolution of 20 ps. The amplitude of the noise waveform generated by the noise source circuits is proportional to the activating ratio of the synchronized inverter group, although resonance frequencies are virtually
the same - 160 MHz - when the activating ratios change.
キーワード (和) 給電系設計 / 電源ノイズ / パワーインテグリティ / チップ-パッケージ共振 / / / /  
(英) power integrity design / power supply noise / power integrity / chip-pkg resonance / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 295, EMCJ2009-83, pp. 25-30, 2009年11月.
資料番号 EMCJ2009-83 
発行日 2009-11-13 (EMCJ) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMCJ2009-83

研究会情報
研究会 EMCJ  
開催期間 2009-11-20 - 2009-11-20 
開催地(和) 青山学院大学 青山キャンパス 
開催地(英) Aoyama Gakuin Univ. (Aoyama Campus) 
テーマ(和) EMC一般〔人体周辺の電波利用技術(ABR)研究会 併催〕 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2009-11-EMCJ 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 遅延観測方式によるチップ内電源ノイズの観測 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Measurement Techniques for On-chip Power Supply Noise Waveforms based on Delay Observation in Inverter Chain Circuits 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 給電系設計 / power integrity design  
キーワード(2)(和/英) 電源ノイズ / power supply noise  
キーワード(3)(和/英) パワーインテグリティ / power integrity  
キーワード(4)(和/英) チップ-パッケージ共振 / chip-pkg resonance  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 植松 裕 / Yutaka Uematsu / ウエマツ ユタカ
第1著者 所属(和/英) 株式会社 日立製作所 (略称: 日立)
Hitachi Co Ltd. (略称: Hitachi Co Ltd.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 大坂 英樹 / Hideki Osaka / オオサカ ヒデキ
第2著者 所属(和/英) 株式会社 日立製作所 (略称: 日立)
Hitachi Co Ltd. (略称: Hitachi Co Ltd.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 鈴木 英一 / Eiichi Suzuki / スズキ エイイチ
第3著者 所属(和/英) 株式会社 日立製作所 (略称: 日立)
Hitachi Co Ltd. (略称: Hitachi Co Ltd.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 柳生 正義 / Masayoshi Yagyu / ヤギュウ マサヨシ
第4著者 所属(和/英) 株式会社 日立製作所 (略称: 日立)
Hitachi Co Ltd. (略称: Hitachi Co Ltd.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 齊藤 達也 / Tatsuya Saito /
第5著者 所属(和/英) 株式会社 日立製作所 (略称: 日立)
Hitachi Co Ltd. (略称: Hitachi Co Ltd.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2009-11-20 13:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 EMCJ2009-83 
巻番号(vol) vol.109 
号番号(no) no.295 
ページ範囲 pp.25-30 
ページ数
発行日 2009-11-13 (EMCJ) 


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