| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2009-11-20 15:50
60 GHz帯におけるAlGaN/GaN系HEMTの出力特性 ○渡邊一世・遠藤 聡・山下良美・広瀬信光(NICT)・三村高志(NICT/富士通研)・松井敏明(NICT) ED2009-159 CPM2009-133 LQE2009-138 |
| 抄録 |
(和) |
AlGaN/GaN系高電子移動度トランジスタ(HEMT)は高出力・高耐圧特性に優れるだけでなくミリ波帯(30-300 GHz)で動作可能で,将来の超高速・大容量・長距離無線通信用デバイスとして期待されている.今回,AlGaN/GaN系HEMTの60 GHz帯における入出力特性を評価した.入出力特性評価に用いた微細ゲートAlGaN/GaN系HEMTは,(0001)面方位SiC基板上にMOCVD法により成長したAl0.21Ga0.79N (18 nm)/GaN (2 μm)を用いて作製され,更に三層絶縁膜SiN/SiO2/SiNを有するMIS型HEMTである.ゲート長35 nm,ゲート幅50 μmのAlGaN/GaN系MIS-HEMTにおいて,出力電力密度1.07 W/mm (出力電力17.3 dBm )を周波数60 GHzで達成した. |
| (英) |
AlGaN/GaN high electron mobility transistors (HEMTs) are the most promising devices for future high-speed and long-range wireless communications to transmit large amount of data because of the HEMTs can operate at millimeter-wave (30-300 GHz) frequency band. In this contribution, we fabricated nanoscale gate Al0.29Ga0.71N/GaN HEMTs with SiN/SiO2/SiN triple-layer insulators, and measured input-output characteristics of the MIS-HEMTs. For the AlGaN/GaN MIS-HEMT with 35-nm-long and 50-μm-width T-shaped gates, we achieved high output power density of 1.07 W/mm (output power Pout = 17.3 dBm) at a frequency of 60 GHz. |
| キーワード |
(和) |
AlGaN/GaN系HEMT / 三層絶縁膜SiN/SiO2/SiN / 入出力特性 / 出力電力密度 / / / / |
| (英) |
AlGaN/GaN HEMT / SiN/SiO2/SiN triple-layer insulators / input-output characteristic / output power density / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 109, no. 288, ED2009-159, pp. 151-155, 2009年11月. |
| 資料番号 |
ED2009-159 |
| 発行日 |
2009-11-12 (ED, CPM, LQE) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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