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講演抄録/キーワード
講演名 2009-12-04 13:25
テスト圧縮指向ドントケア抽出法
若園大洋細川利典日大)・吉村正義九大VLD2009-62 DC2009-49
抄録 (和) 近年VLSIの大規模化,複雑化に伴い,テストパターン数の増大、故障モデルの多様化が問題となっている.それらの問題を解決するために高品質,低コストのテストパターンが必要となっている.高品質,低コストのテスト生成を実現する手法の一つとしてドントケア抽出が存在する.しかしながら,従来のドントケア抽出技術では特定のテストパターンや外部入力にドントケアビットが偏ってしまい,テスト圧縮など特定の適用分野に悪影響を及ぼしている可能性がある.本論文では,入力されたテスト集合に対しケアビットを制御し,圧縮に効果的なドントケア抽出法を提案する.ITC’99ベンチマーク回路とISCAS’89ベンチマーク回路と本手法で生成したテスト集合に対しテスト圧縮を適用し,圧縮率を評価したので報告する. 
(英) In recent year, the growing density and complexity for VLSIs cause an increase in the number of test pattern and an increase in the number of fault models to be tested high quality and low cost test pattern are required to solve there problems. One of test generation methods to get high quality and low cost test pattern is a don’t care identification technique. However, conventional don’t care identification techniques identity don’t care bits of specific primary inputs for specific test pattern. Therefore, it may have a bad influence an application specific fields like a test compaction. In this paper, we propose a test compaction oriented don’t care identification method which controls care bits in a test set. Experimental results for ITC’99 benchmark circuits and ISCAS’89 benchmark circuits show that a given test set can be efficiently compacted the proposed method.
キーワード (和) ドントケア抽出 / ケアビット分布 / テスト圧縮 / 必須故障 / / / /  
(英) don't care identification / care bit bistribution / test compaction / essential fault / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 316, DC2009-49, pp. 149-154, 2009年12月.
資料番号 DC2009-49 
発行日 2009-11-25 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2009-62 DC2009-49

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2009-12-02 - 2009-12-04 
開催地(和) 高知市文化プラザ 
開催地(英) Kochi City Culture-Plaza 
テーマ(和) デザインガイア2009 ―VLSI設計の新しい大地― 
テーマ(英) Design Gaia 2009 ―New Field of VLSI Design― 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2009-12-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) テスト圧縮指向ドントケア抽出法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Test Compaction Oriented Don't Care Identification Method 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ドントケア抽出 / don't care identification  
キーワード(2)(和/英) ケアビット分布 / care bit bistribution  
キーワード(3)(和/英) テスト圧縮 / test compaction  
キーワード(4)(和/英) 必須故障 / essential fault  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 若園 大洋 / Motohiro Wakazono / ワカゾノ モトヒロ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ
第3著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2009-12-04 13:25:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 DC 
資料番号 VLD2009-62, DC2009-49 
巻番号(vol) vol.109 
号番号(no) no.315(VLD), no.316(DC) 
ページ範囲 pp.149-154 
ページ数
発行日 2009-11-25 (VLD, DC) 


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