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| 講演名 | 2009-12-14 10:50 ［招待講演］電源雑音とプロセッサ動作エラーのオンチップ評価技術 ○深澤光弥（ルネサステクノロジ）・永田 真（神戸大）  ICD2009-77 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2009-77 |
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| 抄録 | （和） | CMOSデジタルLSIの論理動作は電源電圧降下に対し高感度であり，過大な電圧降下は動作エラーを引き起こす．本稿では90-nm プロセスの32-bit マイクロプロセッサで発生する電源電圧変動を埋め込み型雑音検出回路で観測し，命令レベルプログラミングによりプロセッサの論理動作エラーを解析する．電圧降下量と活性化論理パスの組み合わせにより，エラーの種類と感度を特徴付けることができる．本稿で示す実験的評価結果はデジタルLSIの論理動作における電源雑音の影響について深い知見を提供する． |
| （英） | Logical operations in CMOS digital integration are highly prone to fail as the amount of power supply (PS) drop approaches to failure threshold. PS voltage variation is characterized by built-in noise monitors in a 32-bit microprocessor of 90-nm CMOS technology, and related with operation failures by instruction-level programming for logical failure analysis. Combination of voltage drop size and activated logic path determines failure sensitivity and class of failures. Experimental observation as well as simplified simulation is applied for the detailed understanding of the impact of PS noise on logical operations of digital integrated circuits. | |
| キーワード | （和） | 電源雑音 / 埋め込み型雑音検出回路 / 論理動作エラー / 動的周波数制御 / / / / |
| （英） | dynamic power supply noise / built-in probing circuit / logical operation failure / dynamic frequency scaling / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 336, ICD2009-77, pp. 7-12, 2009年12月. | |
| 資料番号 | ICD2009-77 | |
| 発行日 | 2009-12-07 (ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2009-77 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2009-77 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
| 開催期間 | 2009-12-14 - 2009-12-15 |
| 開催地（和） | 静岡大学（浜松） |
| 開催地（英） | Shizuoka University (Hamamatsu) |
| テーマ（和） | 若手研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2009-12-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 電源雑音とプロセッサ動作エラーのオンチップ評価技術 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Experimental Evaluation Technique for Power Supply Noise and Logical Operation Failure |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電源雑音 / dynamic power supply noise |
| キーワード(2)（和/英） | 埋め込み型雑音検出回路 / built-in probing circuit |
| キーワード(3)（和/英） | 論理動作エラー / logical operation failure |
| キーワード(4)（和/英） | 動的周波数制御 / dynamic frequency scaling |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 深澤 光弥 / Mitsuya Fukazawa / フカザワ ミツヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社ルネサステクノロジ (略称： ルネサステクノロジ) Renesas Technology Corporation (略称： Renesas Technology Corp.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
| 第2著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-12-14 10:50:00 |
| 発表時間 | 50分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2009-77 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.336 |
| ページ範囲 | pp.7-12 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2009-12-07 (ICD) |
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