| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2010-01-21 13:15
散乱波を用いた高周波複素誘電率の推定 ○駒木根隆士・黒澤孝裕(秋田県産技総研センター)・井上 浩(秋田大) EMCJ2009-104 |
| 抄録 |
(和) |
電気電子機器材料をはじめとして,誘電体は重要な材料であり,高周波に対する誘電率や誘電損失など材料定数の評価法が様々考案されている.ここで提案する散乱波法は,既知の高周波放射電界中に置いた誘電体試料の散乱波電界を計測することにより,その誘電率を非接触で簡便に推定でき,試料サイズが信号波長に対して小さくて良いという特徴を有する.球体試料に関して,散乱波強度と誘電率の関係式を導出した.次に,立方体および円柱の試料に関して分極率を検討し,同一体積のそれぞれの形状での球体に対する最大30%になる補正値を求めた.また,誘電損失の推定手法として,誘電体の分極遅れによる散乱波位相の時間領域の変化を周波数領域で高感度に測定する方法を提案する. |
| (英) |
The dielectric is one of the most important materials for electric devices. To evaluate the permittivity for high frequency signal, several measurement systems have been practically developed. The scattering method can easily estimates the permittivity of the dielectric of which size can be small in comparison with the wave length. In this paper, the relationship between the scattering field strength and the permittivity of the dielectric scatterer is theoretically analyzed, and the formulation was denoted quantitatively. Additionally, the polarizability for a cube and a cylinder was investigated to compensate the shape effect of the specimen. Their correction factors against the spherical value were calculated within 30% larger. Moreover, a new frequency domain method using the scattering wave was proposed to estimate the dielectric loss. The method could measure the phase shift of the scattering wave caused by the polarization delay with high sensitivity. |
| キーワード |
(和) |
誘電率 / 高周波誘電率 / 複素誘電率 / 散乱体 / 変調散乱 / 誘電体 / / |
| (英) |
permittivity / high frequency permittivity / complex dielectric constant / scatterer / modulated scatterer / dielectric / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 109, no. 370, EMCJ2009-104, pp. 37-40, 2010年1月. |
| 資料番号 |
EMCJ2009-104 |
| 発行日 |
2010-01-14 (EMCJ) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
EMCJ2009-104 |
| 研究会情報 |
| 研究会 |
EMCJ |
| 開催期間 |
2010-01-21 - 2010-01-22 |
| 開催地(和) |
琉球大学50周年記念館 |
| 開催地(英) |
University of the Ryukyus |
| テーマ(和) |
一般 |
| テーマ(英) |
|
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
EMCJ |
| 会議コード |
2010-01-EMCJ |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
散乱波を用いた高周波複素誘電率の推定 |
| サブタイトル(和) |
|
| タイトル(英) |
Estimation of Complex Dielectric Constant in High Frequency by using Scattering Wave |
| サブタイトル(英) |
|
| キーワード(1)(和/英) |
誘電率 / permittivity |
| キーワード(2)(和/英) |
高周波誘電率 / high frequency permittivity |
| キーワード(3)(和/英) |
複素誘電率 / complex dielectric constant |
| キーワード(4)(和/英) |
散乱体 / scatterer |
| キーワード(5)(和/英) |
変調散乱 / modulated scatterer |
| キーワード(6)(和/英) |
誘電体 / dielectric |
| キーワード(7)(和/英) |
/ |
| キーワード(8)(和/英) |
/ |
| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
駒木根 隆士 / Takashi Komakine / コマキネ タカシ |
| 第1著者 所属(和/英) |
秋田県産業技術総合研究センター (略称: 秋田県産技総研センター)
Akita Prefectural R&D Center (略称: Akita Prefectural R&D Center) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
黒澤 孝裕 / Takahiro Kurosawa / クロサワ タカヒロ |
| 第2著者 所属(和/英) |
秋田県産業技術総合研究センター (略称: 秋田県産技総研センター)
Akita Prefectural R&D Center (略称: Akita Prefectural R&D Center) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
井上 浩 / Hiroshi Inoue / イノウエ ヒロシ |
| 第3著者 所属(和/英) |
秋田大学 (略称: 秋田大)
Akita University (略称: Akita Univ.) |
| 第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第4著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第5著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第6著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第7著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第8著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第9著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第10著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第11著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第12著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第13著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第14著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第15著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第16著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第17著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第18著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第19著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第20著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第21著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第21著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第22著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第22著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第23著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第23著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第24著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第24著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第25著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第25著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第26著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第26著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第27著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第27著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第28著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第28著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第29著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第29著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第30著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第30著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第31著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第31著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第32著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第32著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第33著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第33著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第34著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第34著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第35著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第35著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 第36著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
| 第36著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2010-01-21 13:15:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
EMCJ |
| 資料番号 |
EMCJ2009-104 |
| 巻番号(vol) |
vol.109 |
| 号番号(no) |
no.370 |
| ページ範囲 |
pp.37-40 |
| ページ数 |
4 |
| 発行日 |
2010-01-14 (EMCJ) |