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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-01-22 14:20 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗（その11） ～ 和田真一・○サインダー ノロブリン・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大）  EMD2009-114 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2009-114 |
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| 抄録 | （和） | 著者らは，鉛直方向のハンマリング加振によって電気接点に実用的な振動を与える機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を検討した．系に加える外力としてデルタ関数及びステップ関数を用い，本機構に対して簡便なモデル化とシミュレーションを実施した．その結果，微小振動影響下における現実の接点の劣化現象に対して加速試験が行えることが示唆された．本論文では，条件１(150G & 2.0N)および条件２(150G & 0.3N)に加え，条件３(400G & 2.0N)下において，電気接点に起きた時系列変動を測定した．接触抵抗の変動は3条件すべてで測定されたが，接触抵抗値・立ち上がり時期などの点でおのおの異なることが示された．原因・要因については，その他の電気的・機械的・物理的・化学的要因についてもさらに注目し，注意深く検討すべきであると考える． |
| （英） | Authors developed the mechanism which gave real vibration to electrical contacts by hammering oscillation in the vertical direction, and studied the influences of a micro-oscillating on contact resistance. By delta function and step function as an external force, they have simply made modeling and simulation for the mechanism. It was suggested that the mechanism could make an acceleration test of actual degradation phenomenon on contacts by the influences of a micro-oscillation. In this paper in addition to Condition1 (150G & 2.0N) Condition2 (150G & 0.3N), they measured the fluctuations of the electrical contacts in the three Condition3 (400G & 2.0N). It was shown that the fluctuations were occurred in all cases but the time-series pattern of the fluctuation was different from each other in the points of contact resistance, starting number and so forth. It should be considered more carefully that how is the phenomenon occurred to pay much more attentions to other factors like those of electrical, mechanical, physical and chemical factors. | |
| キーワード | （和） | 電気接点 / 接触抵抗 / ハンマリング加振機構 / 加速度 / 時系列変動 / / / |
| （英） | electrical contact / contact resistance / hammering oscillating mechanism / acceleration / time series fluctuation / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 385, EMD2009-114, pp. 11-16, 2010年1月. | |
| 資料番号 | EMD2009-114 | |
| 発行日 | 2010-01-15 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2009-114 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2009-114 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2010-01-22 - 2010-01-22 |
| 開催地（和） | レンタルホール湘南平塚 |
| 開催地（英） | Rental Hall Shonan Hiratsuka |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | General |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2010-01-EMD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 |
| サブタイトル（和） | 接触抵抗（その11） |
| タイトル（英） | Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism |
| サブタイトル（英） | Contact Resistance (XI) |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(3)（和/英） | ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism |
| キーワード(4)（和/英） | 加速度 / acceleration |
| キーワード(5)（和/英） | 時系列変動 / time series fluctuation |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co., Ltd., (略称： TMC System Co., Ltd.,) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン |
| 第2著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co., Ltd., (略称： TMC System Co., Ltd.,) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 園田 健人 / Taketo Sonoda / ソノダ タケト |
| 第3著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co., Ltd., (略称： TMC System Co., Ltd.,) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ |
| 第4著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co., Ltd., (略称： TMC System Co., Ltd.,) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 菊地 光男 / Mitsuo Kikuchi / キクチ ミツオ |
| 第5著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co., Ltd., (略称： TMC System Co., Ltd.,) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ |
| 第6著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co., Ltd., (略称： TMC System Co., Ltd.,) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ |
| 第7著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 日本工大) Professor Emeritus of Keio University/Nippon Institute of Technology (略称： Professor Emeritus of Keio Univ./Nippon Inst. of Tech.) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第8著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
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| 講演者 | 第2著者 |
| 発表日時 | 2010-01-22 14:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2009-114 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.385 |
| ページ範囲 | pp.11-16 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-01-15 (EMD) |
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