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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-02-15 15:40 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化 ○宮瀬紘平（九工大）・中村優介（パナソニックCCソフト）・大和勇太・温 暁青・梶原誠司（九工大）  DC2009-76 |
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| 抄録 | （和） | LSIの微細化，高速化は欠陥の振る舞いを複雑・多様にし，故障箇所，故障の原因の特定を困難なものとしている．X故障モデルは多様な論理値の組合せを表現でき，従来から用いられてきた縮退故障モデルによる故障診断手法より精確に故障箇所の特定を可能にする．しかし，X故障モデルに対する故障シミュレーションの計算時間増加が問題となっていた．本論文では，不要なシミュレーションパターンの削減による故障診断の高速化手法を提案する．ベンチマーク回路に対する実験では，診断精度を落とすことなく，シミュレーション回数，実行時間を大幅に削減できることを示す． |
| （英） | Defects behavior of ultra small size and high speed LSI is getting complicated. It makes localization of fault site and analysis of the cause of fault more difficult. X-fault model can represent various combinations of faulty values. Fault diagnosis with X-fault model can more accurately locate the fault site than one with conventional stuck-at fault model. However, computation time for X-fault simulation in the diagnosis becomes larger. In this paper, we propose a method to reduce computation time for X-fault simulation by pruning unnecessary simulation vectors. In the experimental results, the proposed method can reduce computation time for X-fault simulation without degradation of diagnosis results. | |
| キーワード | （和） | 故障診断 / 故障箇所特定 / X故障モデル / 故障シミュレーション / / / / |
| （英） | Fault diagnosis / Localization of fault site / X-fault model / fault simulation / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 416, DC2009-76, pp. 69-74, 2010年2月. | |
| 資料番号 | DC2009-76 | |
| 発行日 | 2010-02-08 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2009-76 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2010-02-15 - 2010-02-15 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2010-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | High Speed X-Fault Diagnosis with Partial X-Resolution |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障診断 / Fault diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | 故障箇所特定 / Localization of fault site |
| キーワード(3)（和/英） | X故障モデル / X-fault model |
| キーワード(4)（和/英） | 故障シミュレーション / fault simulation |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中村 優介 / Yusuke Nakamura / ナカムラ ユウスケ |
| 第2著者 所属（和/英） | パナソニックCCソフト株式会社 (略称： パナソニックCCソフト) Panasonic Communications Software Co.,Ltd. (略称： Panasonic Communications Software Co.,Ltd.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大和 勇太 / Yuta Yamato / ヤマト ユウタ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-02-15 15:40:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2009-76 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.416 |
| ページ範囲 | pp.69-74 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-02-08 (DC) |
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