| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-02-15 13:45 遷移故障テスト圧縮指向制御ポイント挿入法 ○湯本仁高・細川利典（日大）・吉村正義（九大）  DC2009-72 |
|
| 抄録 | （和） | 近年，半導体集積技術の進展に伴い，大規模集積回路(LSI)が大規模化，高集積化している．LSIが大規模化，高集積化することによって回路内のゲート数が増加しており，それに比例してテストパターン数も増加している．また，縮退故障モデルのみのテストでは検出することが困難なタイミング遅延を伴う欠陥や信号線間の短絡による欠陥も増加しており，縮退故障の検出に加えて遷移故障やブリッジ故障の検出が重要となっている．本論文では，遷移故障を検出するためのテストパターン数を削減する方法として，ブロードサイド方式において制御ポイントを挿入する方法を提案する．制御ポイントを挿入することによってテストパターン中のドントケア数が増加し，テスト圧縮の効率が高まると考えられる． |
| （英） | The recent advances in semiconductor processing technology have resulted in the exponential increase in LSI circuit density. The number of test patterns increases in proportion to the number of gates on LSIs. In stuck-at fault testing, it is difficult to detect defects with timing delay and shorts between signal lines. Thus, in addition to detection of stuck-at faults, it is important to detect transition faults and bridging faults. In this paper, we propose a control point insertion method on broadside testing to reduce the number of test patterns for transition faults. It is considered that because the number of don't care bits in test patterns increases by control point insertion, the efficiency for test compaction is improved. Experimental results for ISCAS'89 benchmark circuits show that the proposed control point insertion method is effective to reduce the number of test patterns. | |
| キーワード | （和） | 遷移故障 / ブロードサイド方式 / テストポイント挿入 / 制御ポイント / テスト圧縮 / / / |
| （英） | transition faults / broadside testing / test point insertion / control points / test compaction / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 416, DC2009-72, pp. 45-50, 2010年2月. | |
| 資料番号 | DC2009-72 | |
| 発行日 | 2010-02-08 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2009-72 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2010-02-15 - 2010-02-15 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2010-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 遷移故障テスト圧縮指向制御ポイント挿入法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Test Compaction Oriented Control Point Insertion Method for Transition Faults |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遷移故障 / transition faults |
| キーワード(2)（和/英） | ブロードサイド方式 / broadside testing |
| キーワード(3)（和/英） | テストポイント挿入 / test point insertion |
| キーワード(4)（和/英） | 制御ポイント / control points |
| キーワード(5)（和/英） | テスト圧縮 / test compaction |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 湯本 仁高 / Yoshitaka Yumoto / ユモト ヨシタカ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyusyu University (略称： Kyusyu Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-02-15 13:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2009-72 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.416 |
| ページ範囲 | pp.45-50 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-02-08 (DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]