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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-02-15 09:00 統計的手法による微小Iddq変動外れ値の検出 ○中村芳行・田中正史（NECエレクトロニクス）  DC2009-65 |
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| 抄録 | （和） | プロセスの微細化に伴いIddqのばらつきが増大しており、Iddqテストが困難になっている。このため、Iddqの変動を観測する?Iddq方式などが提案されているが、Iddq変動の要因が多元化し、さらに故障の影響によるIddq変動が微小化しており、判定は困難になっている。本稿では、Iddqの多次元的なoutlierを検出可能な、マハラノビス距離を用いた統計的手法を提案する。また、実製造データにより効果を検証したので報告する。 |
| （英） | With manufacturing process advances, Iddq test becomes difficult due to its variance. Though ?Iddq or various methods were proposed to overcome it, Iddq testing is still difficult because the factor of Iddq variance is increasing and the most of faults affect only small Iddq differences. In this paper, we propose Iddq testing using Mahalanobis distance to identify outliers of multi-dimensional Iddq variance. We also report the evaluation results of our method using real manufacturing data. Keyword Iddq test，Statistical test, adaptive test, Mahalanobis distance |
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| キーワード | （和） | Iddqテスト / 統計的テスト / アダプティブテスト / マハラノビス距離 / / / / |
| （英） | Iddq test / Statistical test / adaptive test / Mahalanobis distance / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 416, DC2009-65, pp. 1-5, 2010年2月. | |
| 資料番号 | DC2009-65 | |
| 発行日 | 2010-02-08 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2009-65 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2010-02-15 - 2010-02-15 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2010-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 統計的手法による微小Iddq変動外れ値の検出 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Statistical Method of Small Iddq Variance Outlier Detection |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | Iddqテスト / Iddq test |
| キーワード(2)（和/英） | 統計的テスト / Statistical test |
| キーワード(3)（和/英） | アダプティブテスト / adaptive test |
| キーワード(4)（和/英） | マハラノビス距離 / Mahalanobis distance |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中村 芳行 / Yoshiyuki Nakamura / ナカムラ ヨシユキ |
| 第1著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス株式会社 (略称： NECエレクトロニクス) NEC Electronics corporation (略称： NEC Electronics) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田中 正史 / Masashi Tanaka / タナカ マサシ |
| 第2著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス株式会社 (略称： NECエレクトロニクス) NEC Electronics corporation (略称： NEC Electronics) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-02-15 09:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2009-65 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.416 |
| ページ範囲 | pp.1-5 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2010-02-08 (DC) |
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