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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-02-15 10:00 マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析 ○小河宏志・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大）  DC2009-67 |
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| 抄録 | （和） | 過剰テストは，歩留まり低下の原因の一つとなる．テスト不可能故障は，回路の機能動作に影響を与えない故障である．しかしながらスキャンテストにおいて，テスト不可能故障はスキャンチェインを通じて検出される可能性がある．テスト不可能故障を検出することが，過剰テストになると考えられる．テスト不可能故障は，制御不能故障と観測不能故障，制御・観測不能故障に分類できる．制御不能故障は，スキャンチェインを通じてシフトイン動作により，無効状態が設定されて検出される可能性がある．観測不能故障は，外部出力で観測することはできないが，故障の影響はFFに伝搬している場合がある．そのため，スキャンチェインを通じてシフトアウト動作により，検出される可能性がある．近年，テスト不可能故障の検出数を削減する手法がいくつか提案されている．これらの手法は主に無効状態を特定し，無効状態を回避したテスト生成を行う．しかしながらこれらの手法では，観測不能故障の検出数を削減することはできない．本論文では，マルチサイクルキャプチャテストを用いて，制御・観測不能故障を同定する．ISCAS’89ベンチマーク回路を用いて，テスト不可能故障同定数と故障励起時刻との関係を解析し，またテスト不可能故障と同定される要因について解析する． |
| （英） | Overtesting induces unnecessary yield loss. Untestable faults have no effect on normal functions of circuits. However, in scan testing, untestable faults may be detected through scan chains. Detected untestable faults cause overtesting. Untestable faults consist of uncontrollable faults, unobservable faults, and uncontrollable and unobservable faults. Uncontrollable faults may be detected under invalid states through scan chains by shift-in operations. Unobservable faults cannot be observed at primary outputs, but their effects may be propagated to scan flip-flops. Thus, unobservable faults may be detected through scan chains by shift-out operations. Several methods to reduce the number of detected untestable faults were recently proposed. These methods identify invalid states and generate test patterns avoiding invalid states. As the result, the number of detected uncontrollable faults was reduced. However, they cannot reduce the number of detected unobservable faults. In this paper, both uncontrollable and unobservable faults are identified using a multi-cycle capture test generation method. We evaluate the relationship between the numbers of untestable faults and the fault excitation time for ISCAS’89 benchmark circuits, and also evaluate factors that untestable faults are identified. | |
| キーワード | （和） | 遷移故障 / 過剰テスト / 時間展開モデル / マルチサイクルキャプチャテスト / テスト不可能故障 / / / |
| （英） | transition faults / over testing / time expansion models / multi-cycle capture test / untestable faults / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 416, DC2009-67, pp. 13-18, 2010年2月. | |
| 資料番号 | DC2009-67 | |
| 発行日 | 2010-02-08 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2009-67 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2010-02-15 - 2010-02-15 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2010-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Study on a Test Generation Method for Transition Faults Using Multi Cycle Capture Test |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遷移故障 / transition faults |
| キーワード(2)（和/英） | 過剰テスト / over testing |
| キーワード(3)（和/英） | 時間展開モデル / time expansion models |
| キーワード(4)（和/英） | マルチサイクルキャプチャテスト / multi-cycle capture test |
| キーワード(5)（和/英） | テスト不可能故障 / untestable faults |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小河 宏志 / Hiroshi Ogawa / オガワ ヒロシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyusyu University (略称： Kyusyu Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 明治大学 (略称： 明大) Meiji University (略称： Meiji Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-02-15 10:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2009-67 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.416 |
| ページ範囲 | pp.13-18 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-02-08 (DC) |
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