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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-02-15 09:25 テスト実行時の温度均一化のためのテストパターン並び替え法 ○中尾 良・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大）  DC2009-66 |
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| 抄録 | （和） | VLSIのテスト実行時は，消費電力が空間や時間でばらつき，それに伴い回路温度が変動する．一方，回路の動作遅延は温度に依存し，温度変動の下では高精度な遅延テストを行うことができない．本稿では，テスト実行時の温度変動による遅延ばらつきを低減し，高品質・高精度な遅延テストを実現するための温度均一化手法を提案する． 提案手法は，与えられたテスト系列を複数の部分系列に分割し，部分系列単位で並び替えることにより温度均一化を実現する．評価実験では，提案手法が与えられたテスト系列に対する既存の消費電力最小化や空間的温度変動最小化といった電力最適化効果を保存したまま，効率的に温度均一化を実現していることを示す． |
| （英） | Power consumption during VLSI testing varies spatially and temporally, and it leads to temperature variation during test.This paper presents a thermal-uniformity-aware test pattern re-ordering method to reduce temperature dependent delay variation for accurate delay testing. In the proposed method, we first divide a given test pattern sequence into a set of subsequences, and then re-order them so that the maximum temperature difference during test is minimized. Experimental results show that the proposed method can achieve thermal uniformity while preserving the power optimization effects such as power minimization or power variation minimization of the given ordered test set. | |
| キーワード | （和） | 温度均一化 / テストパターン並び替え / / / / / / |
| （英） | thermal-uniformity / test pattern re-ordering / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 416, DC2009-66, pp. 7-12, 2010年2月. | |
| 資料番号 | DC2009-66 | |
| 発行日 | 2010-02-08 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2009-66 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2010-02-15 - 2010-02-15 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2010-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | テスト実行時の温度均一化のためのテストパターン並び替え法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Test Pattern Re-Ordering for Thermal-Uniformity during Test |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 温度均一化 / thermal-uniformity |
| キーワード(2)（和/英） | テストパターン並び替え / test pattern re-ordering |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中尾 良 / Makoto Nakao / ナカオ マコト |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology (略称： Nara Inst. of Sci and Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 米田 友和 / Tomokazu Yoneda / ヨネダ トモカズ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology (略称： Nara Inst. of Sci and Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 美智子 / Michiko Inoue / イノウエ ミチコ |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology (略称： Nara Inst. of Sci and Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤原 秀雄 / Hideo Fujiwara / フジワラ ヒデオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology (略称： Nara Inst. of Sci and Tech.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-02-15 09:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2009-66 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.416 |
| ページ範囲 | pp.7-12 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-02-08 (DC) |
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