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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-03-10 16:15 超球の一部を用いた歩留り推定における不良領域の効率的探索手法 ○伊達貴徳・萩原 汐・益 一哉（東工大）・佐藤高史（京大）  VLD2009-105 |
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| 抄録 | （和） | SRAM セルの不良率を推定するため，従来よりMonte Carlo 法による解析が行われている．しかし，ばらつきによって動作しないSRAM セルの発生頻度が小さいことにより，不良率推定に多大な計算時間を要している．本稿では，平均値移動重点的サンプリングで用いる移動ベクトルを，効率よくまた適切に決定する手法を提案する．提案手法では，まず球殻形状の探索領域を段階的に拡大し，その後歩留まりへの寄与が大きい領域に向かって球殻の半径を領域限定しながら縮小する．回路構造の事前知識なしに，効率的かつ安定に平均値移動量を決定でき，また，複 数の正規分布を用いた重点的サンプリングへも適用可能となる．SRAM セルの読出し，書込み解析に対する複数回の実験より，不良率10^{-10} 以下の回路について，従来のMonte Carlo 法と比較し計算試行回数を10^9 倍以上削減できることを確認した． |
| （英） | Monte Carlo simulations have been widely adopted for analyzing circuit properties, such as SRAM yield, under strong influence of process variations. Enormous calculation time is required in such a simulation due to the low failure probabilities. In this paper, we propose a robust shift vector determination for mean shift importance sampling, by which efficiency and stability of the Monte Carlo simulation is improved. In the proposed technique, the sampling region on a hypersphere is first enlarged to find failure region, then the radius and region on the hypersphere are reduced to find the points of the largest contributions. The optimal shift-vectors for mixture of normal distributions are obtained without prior knowledge of the circuit structure. Simulation examples reveal that the proposed technique stably and efficiently estimates yield for both read- and write-operation of SRAM cell. At the failure probabilities of 10¡10, the number of Monte Carlo trials has been reduced by nine orders compared to a vanilla Monte Carlo simulation. |
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| キーワード | （和） | モンテカルロ法 / 重点的サンプリング / SRAM / 歩留り / 混合正規分布 / ノルム最小化 / クラスタリング / 超球 |
| （英） | Monte Carlo method / Importance sampling / SRAM / pyield / gaussian mixture models / norm minimization / clustering / hypersphere | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 462, VLD2009-105, pp. 37-42, 2010年3月. | |
| 資料番号 | VLD2009-105 | |
| 発行日 | 2010-03-03 (VLD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2009-105 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
| 開催期間 | 2010-03-10 - 2010-03-12 |
| 開催地（和） | 沖縄県男女共同参画センター |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術 |
| テーマ（英） | Design Technology for System-on-Silicon |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2010-03-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 超球の一部を用いた歩留り推定における不良領域の効率的探索手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An efficient technique to search failure-areas for yield estimation via partial hyperspherephere |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | モンテカルロ法 / Monte Carlo method |
| キーワード(2)（和/英） | 重点的サンプリング / Importance sampling |
| キーワード(3)（和/英） | SRAM / SRAM |
| キーワード(4)（和/英） | 歩留り / pyield |
| キーワード(5)（和/英） | 混合正規分布 / gaussian mixture models |
| キーワード(6)（和/英） | ノルム最小化 / norm minimization |
| キーワード(7)（和/英） | クラスタリング / clustering |
| キーワード(8)（和/英） | 超球 / hypersphere |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊達 貴徳 / Takanori Date / ダテ タカノリ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 萩原 汐 / Shiho Hagiwara / ハギワラ シホ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Inst. of Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 益 一哉 / Kazuya Masu / マス カズヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Inst. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 高史 / Takashi Sato / サトウ タカシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-03-10 16:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2009-105 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.462 |
| ページ範囲 | pp.37-42 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-03-03 (VLD) |
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