講演抄録/キーワード |
講演名 |
2010-03-28 13:20
SRAM型FPGAにおける二重冗長回路実装手法の一検討 ○白石恭平・尼崎太樹・久我守弘(熊本大)・藤山修久・犬飼道彦(東芝)・末吉敏則(熊本大) CPSY2009-90 DC2009-87 |
抄録 |
(和) |
SRAM 型FPGA(Field Programmable Gate Array)は,メモリに回路情報を保持することにより再構成可能という特徴を持つLSI である.SRAM 型FPGA は,プロセス技術の向上により高集積化・高性能化が進んでおり,様々な分野で注目を集めている.しかし,SEU(Single Event Upset)によりメモリの値が反転し,回路情報が書き変わり誤動作を引き起こす恐れがある.従って,SRAM 型FPGA は決して誤動作が許されないシステムで使用することは困難である.そこで,ケーススタディとして電力システムを対象とし,保護リレー回路の二重冗長化に着目した高信頼化手法を提案する.本稿では,回路全体を二重冗長化する手法と保護リレーの機能ブロック毎に二重冗長化する手法について回路規模や復旧時間を評価し,機能ブロック毎に二重冗長化する手法の可能性を示した. |
(英) |
SRAM-based Field Programmable Gate Array (FPGA) is widely used in various applications such as industrial electronic devices, embedded systems and so on. However, SRAM-based FPGA has the problem of receiving the influence of Single Event Upset (SEU). Therefore, it is difficult to use it in the system that doesn’t permit malfunction. The present paper describes a technique for high-reliability of the protection relay circuit using
Duplication With Comparison (DWC) as a case study. We evaluate the area and recovery time about Full-DWC and Function-DWC. The results show that further possibilities of the Function-DWC. |
キーワード |
(和) |
FPGA / 高信頼化 / 二重冗長化 / SEU / 保護リレー / / / |
(英) |
FPGA / Reliability / Duplication Technique / SEU / Protection Relay / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 109, no. 474, CPSY2009-90, pp. 471-476, 2010年3月. |
資料番号 |
CPSY2009-90 |
発行日 |
2010-03-19 (CPSY, DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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CPSY2009-90 DC2009-87 |