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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-06-21 11:40 レイアウト構造を意識したばらつきモデル化及びそのオペアンプ設計における検証 ○篠原宏太・日高美穂子・董 青・李 静・中武繁寿（北九州市大）  CAS2010-7 VLD2010-17 SIP2010-28 CST2010-7 |
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| 抄録 | （和） | 微細化・低電圧化が進むアナログ集積回路の開発においては、 トランジスタ特性のばらつき解析が重要となる。 本研究では、TEGにより収集したばらつき情報に基づき レイアウト構造に依存するばらつきをモデル化する。 また、そのモデルに基づくモンテカルロ解析の結果と 90nmプロセスで開発したオペアンプのオフセット電圧のばらつき評価 との相関について検証する。 |
| （英） | As geometrical scaling of the transistor dimensions, such as feature size and supply voltage, has dominated the semiconductor industry for greater chip density, the variation analysis of transistor characteristic also becomes more critical important for analog integrated circuit design. In this paper, we present a model for the layout structure dependent variation according to the variation data got from a TEG(test element group) chip, then a correlation analysis is made between the result of Monte Carlo analysis based on this model and the experimental verification result for the offset voltage variation in a 90nm Op-Amp. |
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| キーワード | （和） | アナログレイアウト設計 / レイアウト構造依存性 / モンテカルロ解析 / オペアンプ設計 / / / / |
| （英） | analog layout design / layout-aware variation / Monte Carlo analysis / Op-Amp design / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 87, VLD2010-17, pp. 37-41, 2010年6月. | |
| 資料番号 | VLD2010-17 | |
| 発行日 | 2010-06-14 (CAS, VLD, SIP, CST) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CAS2010-7 VLD2010-17 SIP2010-28 CST2010-7 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CAS MSS VLD SIP |
| 開催期間 | 2010-06-21 - 2010-06-22 |
| 開催地（和） | 北見工大 |
| 開催地（英） | Kitami Institute of Technology |
| テーマ（和） | システムと信号処理および一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2010-06-CAS-CST-VLD-SIP |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | レイアウト構造を意識したばらつきモデル化及びそのオペアンプ設計における検証 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Layout-Aware Variation Modeling and Its Application to Opamp Design |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | アナログレイアウト設計 / analog layout design |
| キーワード(2)（和/英） | レイアウト構造依存性 / layout-aware variation |
| キーワード(3)（和/英） | モンテカルロ解析 / Monte Carlo analysis |
| キーワード(4)（和/英） | オペアンプ設計 / Op-Amp design |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 篠原 宏太 / Kouta Shinohara / シノハラ コウタ |
| 第1著者 所属（和/英） | 北九州市立大学 (略称： 北九州市大) The University of Kitakyushu (略称： Univ. of Kitakyushu) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 日高 美穂子 / Mihoko Hidaka / ヒダカ ミホコ |
| 第2著者 所属（和/英） | 北九州市立大学 (略称： 北九州市大) The University of Kitakyushu (略称： Univ. of Kitakyushu) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 董 青 / Qing Dong / ドン チン |
| 第3著者 所属（和/英） | 北九州市立大学 (略称： 北九州市大) The University of Kitakyushu (略称： Univ. of Kitakyushu) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 李 静 / Jing Li / リ ジン |
| 第4著者 所属（和/英） | 北九州市立大学 (略称： 北九州市大) The University of Kitakyushu (略称： Univ. of Kitakyushu) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中武 繁寿 / Shigetoshi Nakatake / ナカタケ シゲトシ |
| 第5著者 所属（和/英） | 北九州市立大学 (略称： 北九州市大) The University of Kitakyushu (略称： Univ. of Kitakyushu) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-06-21 11:40:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | CAS2010-7, VLD2010-17, SIP2010-28, CST2010-7 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.86(CAS), no.87(VLD), no.88(SIP), no.89(CST) |
| ページ範囲 | pp.37-41 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2010-06-14 (CAS, VLD, SIP, CST) |
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