講演抄録/キーワード |
講演名 |
2010-06-21 11:40
レイアウト構造を意識したばらつきモデル化及びそのオペアンプ設計における検証 ○篠原宏太・日高美穂子・董 青・李 静・中武繁寿(北九州市大) CAS2010-7 VLD2010-17 SIP2010-28 CST2010-7 |
抄録 |
(和) |
微細化・低電圧化が進むアナログ集積回路の開発においては、
トランジスタ特性のばらつき解析が重要となる。
本研究では、TEGにより収集したばらつき情報に基づき
レイアウト構造に依存するばらつきをモデル化する。
また、そのモデルに基づくモンテカルロ解析の結果と
90nmプロセスで開発したオペアンプのオフセット電圧のばらつき評価
との相関について検証する。 |
(英) |
As geometrical scaling of the transistor dimensions, such as feature
size and supply voltage, has dominated the semiconductor industry
for greater chip density, the variation analysis of transistor
characteristic also becomes more critical important for analog
integrated circuit design. In this paper, we present a model for the
layout structure dependent variation according to the variation data
got from a TEG(test element group) chip, then a correlation analysis
is made between the result of Monte Carlo analysis based on this
model and the experimental verification result for the offset
voltage variation in a 90nm Op-Amp. |
キーワード |
(和) |
アナログレイアウト設計 / レイアウト構造依存性 / モンテカルロ解析 / オペアンプ設計 / / / / |
(英) |
analog layout design / layout-aware variation / Monte Carlo analysis / Op-Amp design / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 87, VLD2010-17, pp. 37-41, 2010年6月. |
資料番号 |
VLD2010-17 |
発行日 |
2010-06-14 (CAS, VLD, SIP, CST) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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CAS2010-7 VLD2010-17 SIP2010-28 CST2010-7 |
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