お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2010-08-27 16:20
表面プラズモンを用いた金属中の自由電子励起による光検出
遠山 誠相原卓磨中川恭平山口堅三福田光男豊橋技科大EMD2010-58 CPM2010-74 OPE2010-83 LQE2010-56 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-58 CPM2010-74 OPE2010-83 LQE2010-56
抄録 (和) 表面プラズモンや近接場光を利用した光通信デバイスは,回折限界に制約されないため高密度集積が可能となり,新しい光電子集積回路の要素部品として注目されている.本論文では,表面プラズモンを応用した光検出器開発の一環として,金属ナノロッドを用いたショットキーダイオード作製し,その光応答電流特性を評価した.光照射により金属中の自由電子を直接励起し,光電流として検出した.電子励起は金属薄膜上の金属ナノロッドで励起された局在表面プラズモンにより強められ,光電流が増大されることを確認した.本結果より,ショットキー障壁を用いた表面プラズモン検出の可能性を見出せた. 
(英) Photonic devices employing surface plasmons and optical near field are being actively developed as components of new opto-electronic integrated circuit in many laboratories because these devices are possibly with high density integrated beyond the diffraction limit of light. A schottky-type light detector composed of metal and semiconductor has been fabricated and demonstrated for development of light detector employing surface plasmons. Free electrons in metal were directly excited by incident light and detected as photocurrent. This excitation was enhanced by localized surface plasmon induced at the metal nanorods attached to the metal. These experimental results indicate the feasibility of surface plasmon detector using schottky-junction and metal nanorods.
キーワード (和) 表面プラズモン / フォトダイオード / 金属ナノロッド / ショットキー接合 / / / /  
(英) Surface plasmon / Photodiode / Metal nanorods / Schottky junction / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 180, OPE2010-83, pp. 149-152, 2010年8月.
資料番号 OPE2010-83 
発行日 2010-08-19 (EMD, CPM, OPE, LQE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2010-58 CPM2010-74 OPE2010-83 LQE2010-56 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-58 CPM2010-74 OPE2010-83 LQE2010-56

研究会情報
研究会 EMD OPE LQE CPM  
開催期間 2010-08-26 - 2010-08-27 
開催地(和) 千歳アルカディアプラザ 
開催地(英) Chitose Arcadia Plaza 
テーマ(和) 光部品・電子デバイス実装技術、一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 OPE 
会議コード 2010-08-EMD-OPE-LQE-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 表面プラズモンを用いた金属中の自由電子励起による光検出 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Surface plasmon enhanced light detection using free electron in metal 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 表面プラズモン / Surface plasmon  
キーワード(2)(和/英) フォトダイオード / Photodiode  
キーワード(3)(和/英) 金属ナノロッド / Metal nanorods  
キーワード(4)(和/英) ショットキー接合 / Schottky junction  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 遠山 誠 / Makoto Tohyama / トオヤマ マコト
第1著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: Toyohashi Univ. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 相原 卓磨 / Takuma Aihara / アイハラ タクマ
第2著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: Toyohashi Univ. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 中川 恭平 / Kyouhei Nakagawa / ナカガワ キョウヘイ
第3著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: Toyohashi Univ. of Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 山口 堅三 / Kenzo Yamaguchi / ヤマグチ ケンゾウ
第4著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: Toyohashi Univ. of Tech.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 福田 光男 / Mitsuo Fukuda / フクダ ミツオ
第5著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: Toyohashi Univ. of Tech.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2010-08-27 16:20:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 OPE 
資料番号 EMD2010-58, CPM2010-74, OPE2010-83, LQE2010-56 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.178(EMD), no.179(CPM), no.180(OPE), no.181(LQE) 
ページ範囲 pp.149-152 
ページ数
発行日 2010-08-19 (EMD, CPM, OPE, LQE) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会