ご案内 入会して研究会活動をもっとお得に!研究会参加費・年間登録費が会員価格になります。
お知らせ 【重要】研究会参加費の支払いおよび原稿アップロード手続きの変更に関するご案内
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2010-09-28 15:00
FPGAの同時スイッチングノイズの解析と評価
高橋 遥須藤俊夫芝浦工大)・太田邦夫松毛和久東芝VLD2010-54
抄録 (和) FPGAは様々な製品に広く使われているが,CMOS回路のため,出力バッファ回路が同時に切り替わる時に,同時スイッチングノイズ(SSN)を引き起こす.今回, QFP(Quad Flat Package)パッケージのリードフレームのインダクタン影響と,オンチップキャパシタの正確な見積りにより,SSNの解析精度を改善できたので報告する。
またパッケージの寄生インダクタンスによる出力信号波形の立ち上がりへの影響についても報告する. 
(英) FPGAs(Field Programmable Gate Array) are now widely used to digital products. The FPGAs are constituted by CMOS circuit causes SSN(simultaneous Switching Noise) when the output buffers switched simultaneously. In this paper, accuracy of simulating Simultaneous Switching Noise was improved. We exactly estimated the on-chip capacitance and inductance of lead-frames in the QFP(Quad Flat Package). Moreover, the delay of the high time of output waveform causes by the parasitic inductance of the package ware confirmed.
キーワード (和) FPGA / 同時スイッチングノイズ / QFPパッケージ / シミュレーション / 統合解析 / / /  
(英) FPGA / Simultaneous Switching Noise / QFP / Simulation / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 210, VLD2010-54, pp. 71-76, 2010年9月.
資料番号 VLD2010-54 
発行日 2010-09-20 (VLD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2010-54

研究会情報
研究会 VLD  
開催期間 2010-09-27 - 2010-09-28 
開催地(和) 京都工繊大 60周年記念館 
開催地(英) Kyoto Institute of Technology 
テーマ(和) 物理設計および一般 
テーマ(英) Physical design, etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2010-09-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) FPGAの同時スイッチングノイズの解析と評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Analysis and Evaluation of Simultaneous Switching Noise of FPGA 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) FPGA / FPGA  
キーワード(2)(和/英) 同時スイッチングノイズ / Simultaneous Switching Noise  
キーワード(3)(和/英) QFPパッケージ / QFP  
キーワード(4)(和/英) シミュレーション / Simulation  
キーワード(5)(和/英) 統合解析 /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 遥 / Yo Takahashi / タカハシ ヨウ
第1著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: SIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 須藤 俊夫 / Toshio Sudo / スドウ トシオ
第2著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: SIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 太田 邦夫 / Kunio Ota / オオタ クニオ
第3著者 所属(和/英) 東芝 生産技術センター (略称: 東芝)
Toshiba Corp. (略称: Toshiba)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 松毛 和久 / Kazuhisa Matsuge / マツゲ カズヒサ
第4著者 所属(和/英) 東芝 生産技術センター (略称: 東芝)
Toshiba Corp. (略称: Toshiba)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第21著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第21著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第22著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第22著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第23著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第23著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第24著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第24著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第25著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第25著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第26著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第26著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第27著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第27著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第28著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第28著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第29著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第29著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第30著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第30著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第31著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第31著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第32著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第32著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第33著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第33著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第34著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第34著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第35著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第35著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第36著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第36著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2010-09-28 15:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 VLD 
資料番号 VLD2010-54 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.210 
ページ範囲 pp.71-76 
ページ数
発行日 2010-09-20 (VLD) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会