| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2010-10-05 13:40
SGTを用いたシステムLSIのパターン面積の比較検討 ○小玉貴大・渡辺重佳(湘南工科大) SIP2010-56 ICD2010-70 IE2010-74 |
| 抄録 |
(和) |
SGT(Surround Gate Transistor)、積層型SGTを用いて設計したインバータ、NAND等の簡単な論理回路と、1ビットフルアダーのパターン面積の比較を行った。積層型SGTの導入によりインバータ、NAND等のパターン面積は縮小し、その効果は入力数が少なく、チャネル幅が短いほど顕著になる。フルアダーでもパターン面積は縮小するが、回路方式により、縦幅、横幅の縮小効果が異なる。 |
| (英) |
The pattern area reduction of inverter, NAND, and full adder with SGT and stacked SGT has been ‘newly’ estimated. Wring SGT and stacked SGT the pattern area can be drastically reduced compared with that of conventional planar transistor, SGT and stacked SGT are promising candidate for reeling high density system LSI. |
| キーワード |
(和) |
SGT / 積層型SGT / システムLSI / デザインルール / パターン面積 / / / |
| (英) |
SGT / stacked SGT / system LSI / design rule / pattern area / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 216, ICD2010-70, pp. 43-48, 2010年10月. |
| 資料番号 |
ICD2010-70 |
| 発行日 |
2010-09-28 (SIP, ICD, IE) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
SIP2010-56 ICD2010-70 IE2010-74 |
| 研究会情報 |
| 研究会 |
IPSJ-SLDM SIP IE ICD |
| 開催期間 |
2010-10-05 - 2010-10-06 |
| 開催地(和) |
幕張メッセ 国際会議場 (CEATEC会場) |
| 開催地(英) |
Makuhari Messe, International Conference Hall |
| テーマ(和) |
Digital Harmonyを支えるプロセッサとDSP,画像処理の最先端 |
| テーマ(英) |
Frontier of processor, DSP, and image processing supporting Digital Harmony |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
ICD |
| 会議コード |
2010-10-SLDM-SIP-IE-ICD |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
SGTを用いたシステムLSIのパターン面積の比較検討 |
| サブタイトル(和) |
|
| タイトル(英) |
Pattern Layout Methods of System LSI with SGT |
| サブタイトル(英) |
|
| キーワード(1)(和/英) |
SGT / SGT |
| キーワード(2)(和/英) |
積層型SGT / stacked SGT |
| キーワード(3)(和/英) |
システムLSI / system LSI |
| キーワード(4)(和/英) |
デザインルール / design rule |
| キーワード(5)(和/英) |
パターン面積 / pattern area |
| キーワード(6)(和/英) |
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| キーワード(7)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
小玉 貴大 / Takahiro Kodama / コダマ タカヒロ |
| 第1著者 所属(和/英) |
湘南工科大学 (略称: 湘南工科大)
Shonan Institute of Technology (略称: SIT) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
渡辺 重佳 / Shigeyoshi Watanabe / ワタナベ シゲヨシ |
| 第2著者 所属(和/英) |
湘南工科大学 (略称: 湘南工科大)
Shonan Institute of Technology (略称: SIT) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2010-10-05 13:40:00 |
| 発表時間 |
20分 |
| 申込先研究会 |
ICD |
| 資料番号 |
SIP2010-56, ICD2010-70, IE2010-74 |
| 巻番号(vol) |
vol.110 |
| 号番号(no) |
no.215(SIP), no.216(ICD), no.217(IE) |
| ページ範囲 |
pp.43-48 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2010-09-28 (SIP, ICD, IE) |
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