ご案内 入会して研究会活動をもっとお得に!研究会参加費・年間登録費が会員価格になります。
お知らせ 【重要】研究会参加費の支払いおよび原稿アップロード手続きの変更に関するご案内
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2010-11-11 10:45
The effect of mechanical parameters of switch-type contact on relay life
Wanbin RenYubin JiaoXiaochen LiQiong YuHarbin Inst. of Tech.EMD2010-75
抄録 (和) The mechanical parameters of relay mainly include over-travel of N.O. contacts and N.C. contacts, contact gap, and magnetic gap. The test was done by a model relay testing device, which could set the mechanical parameters assembly. Arc duration time, bouncing time, release time, contact resistance etc were recorded explicitly during relay life test in order to analysis the effect of mechanical parameters on contact switching characteristics. Results showed that the mechanical parameters had a great influence on degradation of relay switching characteristics and life. The conclusions which draw in this paper are meaningful for optimization mechanical parameters of switch-type contact in relay. 
(英) The mechanical parameters of relay mainly include over-travel of N.O. contacts and N.C. contacts, contact gap, and magnetic gap. The test was done by a model relay testing device, which could set the mechanical parameters assembly. Arc duration time, bouncing time, release time, contact resistance etc were recorded explicitly during relay life test in order to analysis the effect of mechanical parameters on contact switching characteristics. Results showed that the mechanical parameters had a great influence on degradation of relay switching characteristics and life. The conclusions which draw in this paper are meaningful for optimization mechanical parameters of switch-type contact in relay.
キーワード (和) relay / mechanical parameters / time parameters / life test / switch-type / / /  
(英) relay / mechanical parameters / time parameters / life test / switch-type / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 270, EMD2010-75, pp. 37-40, 2010年11月.
資料番号 EMD2010-75 
発行日 2010-11-04 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2010-75

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2010-11-11 - 2010-11-12 
開催地(和) 西安交通大学(中国、西安) 
開催地(英) Xi'an Jiaotong University 
テーマ(和) IS-EMD2010(機構デバイス研究会第10回国際セッション) 
テーマ(英) IS-EMD2010 (10th International Session in Electro-Mechanical Devices) 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2010-11-EMD 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) The effect of mechanical parameters of switch-type contact on relay life 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) relay / relay  
キーワード(2)(和/英) mechanical parameters / mechanical parameters  
キーワード(3)(和/英) time parameters / time parameters  
キーワード(4)(和/英) life test / life test  
キーワード(5)(和/英) switch-type / switch-type  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Wanbin Ren / Wanbin Ren /
第1著者 所属(和/英) Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Yubin Jiao / Yubin Jiao /
第2著者 所属(和/英) Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Xiaochen Li / Xiaochen Li /
第3著者 所属(和/英) Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) Qiong Yu / Qiong Yu /
第4著者 所属(和/英) Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第21著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第21著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第22著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第22著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第23著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第23著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第24著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第24著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第25著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第25著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第26著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第26著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第27著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第27著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第28著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第28著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第29著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第29著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第30著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第30著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第31著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第31著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第32著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第32著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第33著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第33著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第34著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第34著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第35著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第35著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第36著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第36著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2010-11-11 10:45:00 
発表時間 15分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 EMD2010-75 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.270 
ページ範囲 pp.37-40 
ページ数
発行日 2010-11-04 (EMD) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会