| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-11-12 13:15 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象の研究 ～ モデリング (10) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大）  EMD2010-111 |
|
| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | A mechanism which contributes oscillation toward electrical contacts by hammering oscillation mechanism (HOM) in the vertical direction has been developed and the influences of a micro-oscillation on contact resistance have been studied. The mechanism could make a study of actual degradation phenomenon on contacts by the influences of a micro-oscillation. First, a mathematical approach in the mechanism of hammering and consequently occurred oscillation using plate dynamic theory was carried out by linearly combination of some functions and a unit step functions as external force in time and space field. According to the approach, dynamical characteristics of the mechanism were analyzed by constructing a model of a thin plate with some initial conditions, boundary conditions and a transformation of wave functions. By comparing the modeling analysis with experimental results, it was shown that the model could express, to some extent, the actual oscillation on a thin plate. Second, another mathematical approach in the interface on electrical contacts was carried out by considering both Coulomb’s frictional force and inertial force adding to the former model. By comparing the modeling method with experimental results, it was suggested that the method could explain, to some extent, the more actual oscillation on the thin plate. By two models it was suggested that the dynamical characteristics of the mechanism, such as displacement, acceleration and mechanical energy, could be derived from linear combinations of basal functions. And using two methods it was thought, to some extent, that a source of the fluctuation of contact resistance caused by the hammering oscillation could be analyzed. |
|
| キーワード | （和） | 電機接点 / 接触抵抗 / 劣化現象 / ハンマリング加振機構 / 微小振動 / クーロン摩擦力 / 慣性力 / 数学モデル |
| （英） | electrical contact / contact resistance / degradation phenomenon / hammering oscillating mechanism / micro-oscillation / Coulomb’s frictional force / inertial force / mathematical model | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 270, EMD2010-111, pp. 185-188, 2010年11月. | |
| 資料番号 | EMD2010-111 | |
| 発行日 | 2010-11-04 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2010-111 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2010-11-11 - 2010-11-12 |
| 開催地（和） | 西安交通大学（中国、西安） |
| 開催地（英） | Xi'an Jiaotong University |
| テーマ（和） | IS-EMD2010（機構デバイス研究会第10回国際セッション） |
| テーマ（英） | IS-EMD2010 (10th International Session in Electro-Mechanical Devices) |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2010-11-EMD |
| 本文の言語 | 英語（日本語タイトルあり） |
| タイトル（和） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象の研究 |
| サブタイトル（和） | モデリング (10) |
| タイトル（英） | A study of Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by Hammering Oscillating Mechanism |
| サブタイトル（英） | Modeling (10) |
| キーワード(1)（和/英） | 電機接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(3)（和/英） | 劣化現象 / degradation phenomenon |
| キーワード(4)（和/英） | ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(6)（和/英） | クーロン摩擦力 / Coulomb’s frictional force |
| キーワード(7)（和/英） | 慣性力 / inertial force |
| キーワード(8)（和/英） | 数学モデル / mathematical model |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ |
| 第2著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン |
| 第3著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小田部 正能 / Masayoshi Kotabe / コタベ マサヨシ |
| 第4著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ |
| 第5著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ |
| 第6著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 日本工大) Nippon Institute of Technology (略称： Nippon Inst. of Tech.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-11-12 13:15:00 |
| 発表時間 | 15分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2010-111 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.270 |
| ページ範囲 | pp.185-188 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2010-11-04 (EMD) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]