講演抄録/キーワード |
講演名 |
2010-11-19 14:25
急速温度サイクル試験による結晶系太陽電池モジュールの劣化加速検討 ○青木雄一・岡本 学(エスペック)・増田 淳・土井卓也(産総研) R2010-33 |
抄録 |
(和) |
結晶系太陽電池モジュールの熱疲労寿命を早期に評価するため,急速温度サイクル試験と当該試験環境下での抵抗値の連続測定を行った.その結果,比較的早期に抵抗値の顕著な増大が観察された.また,劣化した試料の解析により,直列抵抗の増大に帰結する劣化要因が確認された.これらにより,本試験法および測定法が,モジュールのはんだ接合部劣化を短期間で検出する方法となる可能性が示された. |
(英) |
To clarify the failure-mode of crystalline-silicon photovoltaic modules on the thermal-cycle test, the modules were exposed under the dry thermal-stress with rapid thermal-cycling. Pmax was drastically decreased with this treatment, and the increasing of impedance depending on the cycle number was observed at high temperature period, using the on-line monitoring of conductor resistance. In addition, the defection at the particular areas of a module was confirmed by the infrared, EL, and Jsc imaging. These results indicate that the interconnector and/or solder-joint failure occurred during this rapid thermal-cycling, and anticipate that this procedure would be a novel acceleration method for the detection of these failures. |
キーワード |
(和) |
太陽電池モジュール / 信頼性 / 温度サイクル / はんだ / / / / |
(英) |
Photovoltaic Module / Reliability / Thermal-Cycling / Solder / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 298, R2010-33, pp. 5-8, 2010年11月. |
資料番号 |
R2010-33 |
発行日 |
2010-11-12 (R) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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R2010-33 |