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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-11-29 11:20 アナログ基本回路の基板雑音感度に関する考察 ○高谷 聡・坂東要志・長谷川貴士（神戸大）・大川 徹・早田征明・宝本敏治・山田利夫・熊代成孝・最上 徹（半導体先端テクノロジーズ）・永田 真（神戸大）  CPM2010-126 ICD2010-85 |
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| 抄録 | （和） | アナログ増幅回路における信号利得と基板ノイズ応答のその場評価システムを90 nm CMOSテクノロジで試作し、ジオメトリや動作状態の異なる32種類の増幅回路の基板感度が評価可能な評価系を構築した。またこの実測結果に基づき、基板感度発生メカニズムについての考察を行い、信号利得と基板感度が線形な関係にある一方、テール電流源の出力抵抗値によって基板感度が大きく変化することを示した。 |
| （英） | Measure substrate sensitivity of differential amplifiers in a 90 nm CMOS technology with more than 32 different geometory and operating conditions. Substrate sensitivity has a relation with the signal gain, and the output resistance value of the tail current source. | |
| キーワード | （和） | ミックストシグナルVLSI / 基板クロストーク / オンチップモニタ / / / / / |
| （英） | mixedsignal VLSI / substrate crosstalk / on-chip monitor / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 315, ICD2010-85, pp. 13-17, 2010年11月. | |
| 資料番号 | ICD2010-85 | |
| 発行日 | 2010-11-22 (CPM, ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPM2010-126 ICD2010-85 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2010-11-29 - 2010-12-01 |
| 開催地（和） | 九州大学医学部百年講堂 |
| 開催地（英） | Kyushu University |
| テーマ（和） | デザインガイア2010 ―VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2010 ―New Field of VLSI Design― |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2010-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | アナログ基本回路の基板雑音感度に関する考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Consideration of Substrate Noise Sensitivity of Analog Elements |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ミックストシグナルVLSI / mixedsignal VLSI |
| キーワード(2)（和/英） | 基板クロストーク / substrate crosstalk |
| キーワード(3)（和/英） | オンチップモニタ / on-chip monitor |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高谷 聡 / Satoshi Takaya / タカヤ サトシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 坂東 要志 / Yoji Bando / バンドウ ヨウジ |
| 第2著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長谷川 貴士 / Takashi Hasegawa / ハセガワ タカシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大川 徹 / Toru Ohkawa / オオカワ トオル |
| 第4著者 所属（和/英） | 株式会社半導体先端テクノロジーズ (略称： 半導体先端テクノロジーズ) MIRAI-Selete (略称： MIRAI-Selete) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 早田 征明 / Masaaki Souda / ソウダ マサアキ |
| 第5著者 所属（和/英） | 株式会社半導体先端テクノロジーズ (略称： 半導体先端テクノロジーズ) MIRAI-Selete (略称： MIRAI-Selete) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宝本 敏治 / Toshiharu Takaramoto / タカラモト トシハル |
| 第6著者 所属（和/英） | 株式会社半導体先端テクノロジーズ (略称： 半導体先端テクノロジーズ) MIRAI-Selete (略称： MIRAI-Selete) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山田 利夫 / Toshio Yamada / ヤマダ トシオ |
| 第7著者 所属（和/英） | 株式会社半導体先端テクノロジーズ (略称： 半導体先端テクノロジーズ) MIRAI-Selete (略称： MIRAI-Selete) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 熊代 成孝 / Shigetaka Kumashiro / クマシロ シゲタカ |
| 第8著者 所属（和/英） | 株式会社半導体先端テクノロジーズ (略称： 半導体先端テクノロジーズ) MIRAI-Selete (略称： MIRAI-Selete) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | 最上 徹 / Tohru Mogami / モガミ トオル |
| 第9著者 所属（和/英） | 株式会社半導体先端テクノロジーズ (略称： 半導体先端テクノロジーズ) MIRAI-Selete (略称： MIRAI-Selete) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
| 第10著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-11-29 11:20:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | CPM2010-126, ICD2010-85 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.314(CPM), no.315(ICD) |
| ページ範囲 | pp.13-17 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2010-11-22 (CPM, ICD) |
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