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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-12-10 14:05 ESDガンの間接放電においてテーパー型垂直結合板を用いた供試機器の配置に不感な耐性試験法 ○辻 拓朗・姫野浩志（名工大）・高 義礼（釧路高専）・藤原 修（名工大）  EMCJ2010-92 |
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| 抄録 | （和） | IEC61000-4-2では，帯電人体からの静電気放電(ESD: Electrostatic discharge)を模擬した静電気試験器(ESDガン)による耐性試験法として，垂直結合版(VCP: Vertical coupling plane)を用いた間接放電法を規定している．それは，供試機器(EUT: Equipment under test)に対しVCPを0.1m離して平行に設置し，VCPのエッジ部中央にESDガンを接触・放電する試験法であるが，EUTの配置が指定されておらず，それ故に試験者によって試験結果が異なる恐れがある．筆者らは先に，同試験法におけるEUTの配置に対する試験効果を調べるために発生電磁界の測定を行い，VCP背面からの放電がEUTの配置に影響されにくい試験法として有効であることを確認したが，EUTの誘導電圧レベルが低下するといった問題があった．本文では，現用の正方形型結合板の両側にテーパー型金属板を新たに設けたVCP(テーパー型VCP)への間接放電に対して，EUTの代わりに磁界プローブを用い，配置位置を変えた際の誘導電圧波形を測定し，波形のピークとエネルギー量のばらつきを求めた．その結果，磁界プローブを水平方向に移動させた場合には，現用VCPでは波形ピーク（波形エネルギー量）は16倍(12倍)程度にばらつくのに対して，テーパー型VCPでは9.2倍(6.1倍)程度で約60%(50%)に抑えられ，テーパー型VCPを用いることによりEUTの設置位置による試験結果の影響を受けにくいことが確認できた． |
| （英） | International Electrotechnical Commission (IEC) prescribes immunity tests (IEC61000-4-2) of electronic equipment against electrostatic discharge (ESDs), and specifies indirect discharges of an ESD gun onto a vertical coupling plane (VCP) in the vicinity of equipment under test (EUT) for simulating personal discharges to conductive materials being adjacent to the EUT. According to IEC 61000-4-2 2008-04, the VCP shall be placed at a distance of 0.1m from the EUT, and the indirect discharges of an ESD gun should be conducted to the centre of a vertical edge of the VCP, though the reference arrangement of EUT is not specifically determined. In the previous study, we measured electromagnetic fields due to indirect discharges of an ESD gun onto a VCP to investigate their variations with respect to EUT positions, which showed that indirect discharges onto a vertical edge from the back side of a VCP are very likely to reduce the above-mentioned variations, while the induced voltage levels become low. In the present study, to improve this problem, we used a tapered VCP in lieu of the IEC-specified VCP, and by using a magnetic field probe in place of EUT, we measured its induced voltages for indirect discharges of an ESD gun onto the VCP, and examined the variations in peaks and waveform energies with respect to the probe positions. As a result, we found that the tapered VCP suppresses the variations in peaks by 60% and waveform energies by 50% compared to the IEC specified VCP. | |
| キーワード | （和） | 静電気放電 / IEC規格 / 間接放電 / テーパー型垂直結合板 / 誘導電圧波形 / ばらつき / / |
| （英） | ESD / IEC standard / Indirect discharges / tapered vertical coupling plane / induced voltages / variations / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 332, EMCJ2010-92, pp. 63-67, 2010年12月. | |
| 資料番号 | EMCJ2010-92 | |
| 発行日 | 2010-12-03 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2010-92 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ IEE-EMC |
| 開催期間 | 2010-12-10 - 2010-12-10 |
| 開催地（和） | 中京大学 豊田キャンパス |
| 開催地（英） | Chukyo Univ. Toyoda Campus |
| テーマ（和） | 電力，生体，EMC，一般 |
| テーマ（英） | Electric Power, EMC, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2010-12-EMCJ-EMC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ESDガンの間接放電においてテーパー型垂直結合板を用いた供試機器の配置に不感な耐性試験法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Immunity Test Method Insensitive to Arrangements of Equipment Under Test for Indirect Discharges of ESD-Gun onto Tapered Vertical Coupling Plane |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 静電気放電 / ESD |
| キーワード(2)（和/英） | IEC規格 / IEC standard |
| キーワード(3)（和/英） | 間接放電 / Indirect discharges |
| キーワード(4)（和/英） | テーパー型垂直結合板 / tapered vertical coupling plane |
| キーワード(5)（和/英） | 誘導電圧波形 / induced voltages |
| キーワード(6)（和/英） | ばらつき / variations |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 辻 拓朗 / Takuro Tsuji / ツジ タクロウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学 (略称： 名工大) Nagoya Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 姫野 浩志 / Kouji Himeno / ヒメノ コウジ |
| 第2著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学 (略称： 名工大) Nagoya Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高 義礼 / Yoshinori Taka / タカ ヨシノリ |
| 第3著者 所属（和/英） | 釧路工業高等専門学校 (略称： 釧路高専) Kushiro National College of Technology (略称： KNCT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤原 修 / Osamu Fujiwara / フジワラ オサム |
| 第4著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学 (略称： 名工大) Nagoya Institute of Technology (略称： NIT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-12-10 14:05:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2010-92 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.332 |
| ページ範囲 | pp.63-67 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2010-12-03 (EMCJ) |
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