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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-12-16 15:10 ［ポスター講演］SRAMコアにおける電源/グラウンド雑音の評価 ○利川 托・桝井 翼・澤田卓也・永田 真（神戸大）  ICD2010-112 |
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| 抄録 | （和） | SRAMの動作時における電源ノイズを評価するテストチップを90-nm CMOSプロセスにより設計・試作・評価した。本チップには，電圧を観察するためのチップ内電圧モニタ，メモリ不良ビット検知・解析のためのBIST 回路、およびビットやワード構成の異なるSRAMマクロを搭載している。メモリの様々な動作条件において電源／グラウンド雑音の測定を行い、またユーザモード（任意ビットパターン）及びBISTモード（固定テストパターン）で比較した。メモリ動作時の電位変動の平均や振幅などを評価し、メモリ動作周波数に依存した電源ノイズが発生することがわかった．また本研究では、BIST回路を用いた不良ビット率(BER)や不良ビットマップ(FBM)の取得と、チップ内電圧モニタによる電源ノイズの測定を自動化する測定システムを構築し、電源ノイズと動作不良を関連付ける測定に挑戦している。 |
| （英） | Power noise of SRAM operation is evaluated with a test chip fabricated in a 90-nm CMOS technology. The chip includes on-die voltage monitors, BIST structures for failure bit detection and analysis, and a set of SRAM macros with different bit and word specifications. Power and ground noise waveforms are measured and compared in a variety of operation conditions in both user and BIST modes. It is found that power noise depends on an operating frequency of memory, in terms of their average and amplitudes. We are challenging to relate power noise and bit failures, by using automatic measurement systems of power noise, bit error rate, and fail bit map. | |
| キーワード | （和） | SRAM / 電源雑音 / チップ内電圧モニタ / / / / / |
| （英） | SRAM / power noise / on-die voltage monitors / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 344, ICD2010-112, pp. 85-88, 2010年12月. | |
| 資料番号 | ICD2010-112 | |
| 発行日 | 2010-12-09 (ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2010-112 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
| 開催期間 | 2010-12-16 - 2010-12-17 |
| 開催地（和） | 東京大学 先端科学技術研究センター |
| 開催地（英） | RCAST, Univ. of Tokyo |
| テーマ（和） | 学生・若手研究会 |
| テーマ（英） | Workshop for Graduate Student and Young Researchers |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2010-12-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | SRAMコアにおける電源/グラウンド雑音の評価 |
| サブタイトル（和） | * |
| タイトル（英） | Evaluation of power noise in SRAM core |
| サブタイトル（英） | * |
| キーワード(1)（和/英） | SRAM / SRAM |
| キーワード(2)（和/英） | 電源雑音 / power noise |
| キーワード(3)（和/英） | チップ内電圧モニタ / on-die voltage monitors |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 利川 托 / Taku Toshikawa / トシカワ タク |
| 第1著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 桝井 翼 / Tsubasa Masui / マスイ ツバサ |
| 第2著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤田 卓也 / Takuya Sawada / サワダ タクヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
| 第4著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-12-16 15:10:00 |
| 発表時間 | 120分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2010-112 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.344 |
| ページ範囲 | pp.85-88 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2010-12-09 (ICD) |
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