講演抄録/キーワード |
講演名 |
2010-12-17 16:25
裏面からのレーザー照射による2層同時結晶化LTPS-TFTメモリの特性評価 ○松江将博・市川和典・赤松 浩(神戸高専)・山崎浩司・堀田昌宏・浦岡行治(奈良先端大) SDM2010-200 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2010-200 |
抄録 |
(和) |
これまで、a-Si/SiO2/a-Siを積層した基板にグリーンレーザーを照射した場合、2層同時結晶化することを報告し、さらに上層をフローティングゲート、下層をチャネル層としたLTPS-TFT(Low Temperature Poly-Si TFT)メモリの作製を行った。今回は更なる特性向上を目指し、グリーンレーザーを基板裏面から照射したLTPS-TFTメモリの作製を行った。その結果、これまでよりチャネル層の結晶性が向上し、ON電流が増加した。さらに結晶時の融解熱によりSiO2がアニールされることで界面状態が向上し、S値及びメモリ特性についても向上が見られた。 |
(英) |
We have reported that the stacked a-Si layers were simultaneous crystallized by the green laser irradiation. In this study, stacked a-Si/SiO2/a-Si on the quartz substrate was crystallized two layers simultaneous by the green laser irradiation from the back. Thus, we fabricated the LTPS-TFT memory which has the upper layer as floating gate and the lower layer as channel layer. As a result, the crystallinity of the channel layer was improved and the on current was markedly increased. Moreover, the interface condition was improved due to the SiO2 layer was annealed by heat of fusion at the crystallization. Therefore, the subthreshold value and memory property were also improved. |
キーワード |
(和) |
低温Poly-Si TFT / グリーンレーザー / フラッシュメモリ / レーザー結晶化 / / / / |
(英) |
Low Temperature Poly-Si TFT / Green laser / Flash memory / Laser crystallization / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 351, SDM2010-200, pp. 83-86, 2010年12月. |
資料番号 |
SDM2010-200 |
発行日 |
2010-12-10 (SDM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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