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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-12-17 14:50 SSD向けエラー訂正手法の比較と符号長の動的最適化手法 ○田中丸周平（東大）・江角 淳・伊東充吉・李 凱（シグリード）・竹内 健（東大）  ICD2010-124 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2010-124 |
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| 抄録 | （和） | SSD向けのエラー訂正手法として，リード・ソロモン符号やBCH符号等を訂正能力に応じて比較する．そのうえで，より高信頼性SSD向けにECC符号長の動的最適化手法を紹介する．SSDのエラー数や書き換え回数をモニターすることでECCの符号長を512バイト，1Kバイト, 2Kバイト, 4Kバイト…32Kバイトと徐々に長くしてゆく手法である．提案の手法による長いECCの符号長によってエラー訂正後の不良率を抑える．１つの符号後におけるパリティビットの割合がどのECCの符号長においても同じなので余分なメモリ領域は必要ではなく，そのため製造後の信頼性増加をコスト増なしに実現できる． |
| （英） | This paper compares error correcting codes (ECC) such as RS code and BCH code as an ECC for SSDs and introduces dynamic codeword transition ECC scheme for highly reliable SSDs. By monitoring the error number or the write / erase cycles, the ECC codeword dynamically increases from 512Byte (+parity) to 1KByte, 2KByte, 4KByte…32KByte. The proposed ECC with a larger codeword decreases the failure rate after ECC. Because the parity rate per codeword is the same in each ECC codeword, no additional memory area is required so that the reliability of SSD is improved after the manufacturing without cost penalty. | |
| キーワード | （和） | ECC / エラー訂正符号 / SSD / NANDフラッシュメモリ / / / / |
| （英） | ECC / Error correcting code / SSD / NAND Flash memory / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 344, ICD2010-124, pp. 147-152, 2010年12月. | |
| 資料番号 | ICD2010-124 | |
| 発行日 | 2010-12-09 (ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2010-124 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2010-124 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
| 開催期間 | 2010-12-16 - 2010-12-17 |
| 開催地（和） | 東京大学 先端科学技術研究センター |
| 開催地（英） | RCAST, Univ. of Tokyo |
| テーマ（和） | 学生・若手研究会 |
| テーマ（英） | Workshop for Graduate Student and Young Researchers |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2010-12-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | SSD向けエラー訂正手法の比較と符号長の動的最適化手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Comparison of the Error Correction Methods for SSDs and Dynamic Codeword Transition ECC Scheme |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ECC / ECC |
| キーワード(2)（和/英） | エラー訂正符号 / Error correcting code |
| キーワード(3)（和/英） | SSD / SSD |
| キーワード(4)（和/英） | NANDフラッシュメモリ / NAND Flash memory |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田中丸 周平 / Shuhei Tanakamaru / タナカマル シュウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 江角 淳 / Atsushi Esumi / エスミ アツシ |
| 第2著者 所属（和/英） | シグリード (略称： シグリード) SIGLED Inc. (略称： SIGLEAD) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊東 充吉 / Mitsuyoshi Ito / イトウ ミツヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | シグリード (略称： シグリード) SIGLED Inc. (略称： SIGLEAD) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 李 凱 / Kai Li / リ カイ |
| 第4著者 所属（和/英） | シグリード (略称： シグリード) SIGLED Inc. (略称： SIGLEAD) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 竹内 健 / Ken Takeuchi / タケウチ ケン |
| 第5著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-12-17 14:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2010-124 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.344 |
| ページ範囲 | pp.147-152 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-12-09 (ICD) |
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