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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-02-14 10:00 メモリテストプロセッサを用いたDDR3メモリモジュールテスタの開発 ○浅川 毅・松埜 智（東海大）・土屋秀和（日立ハイテクエンジニアリングサービス）・関 達也・熊澤慎一（テクニカ）  DC2010-59 |
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| 抄録 | （和） | メモリモジュールメーカでは，品質を保証するために製造したメモリモジュールをテストする必要がある．しかし，市販されているメモリモジュールテスタは高価であることや，低コストのものは任意のテストパターンの作成が行えないなどの問題がある．そこで我々は評価とテストに対する自由度があり，低コストなメモリモジュールテスタの開発を行なった．このテスタでは，メモリテストアルゴリズムに基づくメモリテストプロセッサとDDR3 メモリモジュールインタフェースをFPGA に実装している．本稿では，開発したDDR3 メモリモジュールテスタについて述べ，更に試作したテスタを使用した評価結果を報告する． |
| （英） | The testing for the memory module is necessary to warrant the quality in the memory module manufacturer. However, there are problems that the LSI tester is expensive and the low cost one can’t generate the arbitrary test patterns. Then, we developed a low-cost memory module tester with flexibility for the memory test and the evaluation. The memory test processor based on memory testing algorithm and the DDR3 memory module interface are implemented on FPGA in the tester. In this paper, we explain the architecture of the developed DDR memory module tester. In addition, we report on the evaluation result using the prototype. | |
| キーワード | （和） | LSI テスト / FPGA / DDR3 / メモリモジュール / / / / |
| （英） | LSI testing / FPGA / DDR3 / memory module / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 413, DC2010-59, pp. 1-6, 2011年2月. | |
| 資料番号 | DC2010-59 | |
| 発行日 | 2011-02-07 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2010-59 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2011-02-14 - 2011-02-14 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2011-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | メモリテストプロセッサを用いたDDR3メモリモジュールテスタの開発 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | The development of the DDR3 memory module tester used on memory test processor |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | LSI テスト / LSI testing |
| キーワード(2)（和/英） | FPGA / FPGA |
| キーワード(3)（和/英） | DDR3 / DDR3 |
| キーワード(4)（和/英） | メモリモジュール / memory module |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 浅川 毅 / Takeshi Asakawa / アサカワ タケシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東海大学 (略称： 東海大) Tokai University (略称： Tokai Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松埜 智 / Satoshi Matsuno / マツノ サトシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東海大学 (略称： 東海大) Tokai University (略称： Tokai Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 土屋 秀和 / Hidekazu Tsuchiya / ツチヤ ヒデカズ |
| 第3著者 所属（和/英） | 株式会社日立ハイテクエンジニアリングサービス (略称： 日立ハイテクエンジニアリングサービス) Hitachi High-Tech Engineering Service Corporation (略称： Hitachi) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 関 達也 / Tatsuya Seki / セキ タツヤ |
| 第4著者 所属（和/英） | 株式会社テクニカ (略称： テクニカ) Techinica Co.Ltd (略称： Techinica) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 熊澤 慎一 / Shinichi Kmazawa / クマザワ シンイチ |
| 第5著者 所属（和/英） | 株式会社テクニカ (略称： テクニカ) Techinica Co.Ltd (略称： Techinica) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-02-14 10:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2010-59 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.413 |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-02-07 (DC) |
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