講演抄録/キーワード |
講演名 |
2011-02-14 10:25
実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定 ○坂井僚太・宮瀬紘平・温 暁青(九工大)・麻生正雄・古川 寛(ルネサス マイクロシステム)・大和勇太(福岡県産業・科学技術振興財団)・梶原誠司(九工大) DC2010-60 |
抄録 |
(和) |
実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の過度な消費電力は,LSIテスト時にタイミングのエラーを引き起こし,歩留り低下の原因となる.そのため,テストベクトルに対して正確にキャプチャ安全性判定を行い,歩留り低下の原因となる危険なテストベクトルを判別することが重要である.本研究では,論理回路中の各ゲートで起こる遷移のタイミングを考慮したTTR (Transition-Time-Relation) キャプチャ安全性判定手法を提案する.実験結果では,TTRを用いることでキャプチャ安全性判定の正確性が向上することを示す. |
(英) |
Excessive capture power in at-speed scan testing may cause timing failures, resulting in test-induced yield loss. This has made capture-safety checking mandatory for test vectors. This paper presents a novel metric, called the TTR (Transition-Time-Relation) metric, which takes transition time relations into consideration in capture-safety checking. Capture-safety checking with the TTR metric greatly improves the accuracy of test vector sign-off and low-capture-power test generation. |
キーワード |
(和) |
実速度テスト / ATPG / 低消費電力テスト / キャプチャ安全性判定 / / / / |
(英) |
At-speed testing / ATPG / Low-power-test / Capture-safety checking / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 413, DC2010-60, pp. 7-12, 2011年2月. |
資料番号 |
DC2010-60 |
発行日 |
2011-02-07 (DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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DC2010-60 |