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講演抄録/キーワード
講演名 2011-02-18 15:50
初期故障率に基づく電子部品の統計的品質管理
松岡敏成三菱電機R2010-48 EMD2010-149 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-149
抄録 (和) 電子部品の製造工程は複雑で,作り込みだけで目標品質を達成できるまで製造条件のばらつきを抑え込むことが難しく,検査やエージングを繰返すスクリーニング工程を設けて,目標寿命よりも短い寿命に出来上がってしまった物の流出防止を図ることが必要になる.すなわち,電子部品の耐用寿命や市場品質(初期故障率)は,スクリーニングの能力に強く依存している.そして,目標品質を達成するためには,試作段階でその能力を検証してスクリーニング条件を最適化し,さらに検査工程の実績データに対する管理基準として反映させて,量産後の品質を管理することが必要になる. 
(英) Basically, a manufacturing process of electronic components is complex and demanding.Therefore, in order to achieve a quality target, it is difficult to control variation of manufacturing condition only depending on manufacturing capability.Accordingly, it is required to establish some repeated screening processes such as inspection and aging, so as to prevent any outflow of units which have shorter life duration than a target.In other words, for electronic components, the useful life and the quality in field (Early Life Failure Rate) is heavily dependent on the screening capability.Moreover, in order to achieve a quality target, it is required to validate the capability at the prototype stage, so as to reflect it as a control standard for a performance data at an inspection process any later than mass production starts.
キーワード (和) 初期故障率 / 統計的品質管理 / 累積ハザード解析 / ワイブル分布 / 認定評価 / / /  
(英) EFR / SQC / Hazard / Weibull / Qualification / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 415, R2010-48, pp. 37-42, 2011年2月.
資料番号 R2010-48 
発行日 2011-02-11 (R, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2010-48 EMD2010-149 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-149

研究会情報
研究会 EMD R  
開催期間 2011-02-18 - 2011-02-18 
開催地(和) 静岡大学(浜松キャンパス) 
開催地(英) Shizuoka Univ. (Hamamatsu) 
テーマ(和) 機構デバイスの信頼性、信頼性一般(共催:継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 R 
会議コード 2011-02-EMD-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 初期故障率に基づく電子部品の統計的品質管理 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Statistical Quality Control based on Early Life Failure Rate for Electronic Components 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 初期故障率 / EFR  
キーワード(2)(和/英) 統計的品質管理 / SQC  
キーワード(3)(和/英) 累積ハザード解析 / Hazard  
キーワード(4)(和/英) ワイブル分布 / Weibull  
キーワード(5)(和/英) 認定評価 / Qualification  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 松岡 敏成 / Toshinari Matsuoka / マツオカ トシナリ
第1著者 所属(和/英) 三菱電機株式会社 (略称: 三菱電機)
MitsubishiElectric corp. (略称: MELCO)
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講演者 第1著者 
発表日時 2011-02-18 15:50:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 R 
資料番号 R2010-48, EMD2010-149 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.415(R), no.416(EMD) 
ページ範囲 pp.37-42 
ページ数
発行日 2011-02-11 (R, EMD) 


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