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講演抄録/キーワード
講演名 2011-02-23 16:55
SQUID共振を利用したサブミクロンAl接合容量の測定
菊池健人守屋雅隆島田 宏水柿義直電通大ED2010-199 SDM2010-234
抄録 (和) サブミクロンAl 接合をもつデバイス作製にあたっては、接合容量をはじめ、抵抗やインダクタンスのデバイスパラメータを正確に決めることが必要である.そこで、このデバイスパラメータを1 つのデバイスで実験的に求めることのできる電流注入型SQUID を試作した.その結果、SQUID の接合がもつ容量とインダクタンスによる共振ステップと臨界電流変調周期から、Al 接合容量をはじめとするデバイスパラメータを求めることができた.今回の測定では54~170fF/μm2 となり、過去の他の方法で求められたAl 接合容量報告値と同様の結果を得ることが出来た. 
(英) It is necessary to extract the capacitances, resistances and inductances experimentally for fabrication sub-micron Al junction device. We have obtained these device parameters using SQUID resonance techniques with sub-micron Al junctions evaluated by means of direct current injections. The results of capacitance are 54~170fF/μm2 .
キーワード (和) 超伝導体 / ジョセフソン接合 / SQUID / トンネル接合 / インダクタンス / 接合容量 / /  
(英) Superconductor / Josephson-Junction / SQUID / tunnel junction / inductance / capacitance / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 423, ED2010-199, pp. 43-48, 2011年2月.
資料番号 ED2010-199 
発行日 2011-02-16 (ED, SDM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ED2010-199 SDM2010-234

研究会情報
研究会 SDM ED  
開催期間 2011-02-23 - 2011-02-24 
開催地(和) 北海道大学 百年記念会館 
開催地(英) Hokkaido Univ. 
テーマ(和) 機能ナノデバイス及び関連技術 
テーマ(英) Functional nanodevices and related technologies 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ED 
会議コード 2011-02-SDM-ED 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) SQUID共振を利用したサブミクロンAl接合容量の測定 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Capacitance measurements of sub-micron Al junctions using SQUID resonance 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 超伝導体 / Superconductor  
キーワード(2)(和/英) ジョセフソン接合 / Josephson-Junction  
キーワード(3)(和/英) SQUID / SQUID  
キーワード(4)(和/英) トンネル接合 / tunnel junction  
キーワード(5)(和/英) インダクタンス / inductance  
キーワード(6)(和/英) 接合容量 / capacitance  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 菊池 健人 / Kento Kikuchi / キクチ ケント
第1著者 所属(和/英) 電気通信大学 (略称: 電通大)
The University of Electro-Communications (略称: Univ. of Electro-Comm.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 守屋 雅隆 / Masataka Moriya / モリヤ マサタカ
第2著者 所属(和/英) 電気通信大学 (略称: 電通大)
The University of Electro-Communications (略称: Univ. of Electro-Comm.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 島田 宏 / Hiroshi Shimada / シマダ ヒロシ
第3著者 所属(和/英) 電気通信大学 (略称: 電通大)
The University of Electro-Communications (略称: Univ. of Electro-Comm.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 水柿 義直 / Yoshinao Mizugaki / ミズガキ ヨシナオ
第4著者 所属(和/英) 電気通信大学 (略称: 電通大)
The University of Electro-Communications (略称: Univ. of Electro-Comm.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2011-02-23 16:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ED 
資料番号 ED2010-199, SDM2010-234 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.423(ED), no.424(SDM) 
ページ範囲 pp.43-48 
ページ数
発行日 2011-02-16 (ED, SDM) 


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